检测项目

相组成定量分析：采用Rietveld精修法测定α/β/γ相比例，精度±0.5%

共晶点测定：DSC测定二次相析出温度（200-1500℃范围，±1℃重复性）

扩散系数测定：四探针法测试元素互扩散系数（10⁻¹²~10⁻¹⁶ m²/s量级）

微观偏析分析：EPMA线扫描测定成分梯度（空间分辨率1μm）

热力学平衡验证：CALPHAD模拟与实验数据拟合度评估（SSE＜0.05）

检测范围

高温合金体系：镍基单晶合金（如CMSX-4）、钛铝金属间化合物

电子陶瓷材料：BaTiO₃-SrTiO₃-PbTiO₃系介电陶瓷

焊接填充材料：Ag-Cu-Zn钎料合金（BAg-8类）

核用结构材料：Zr-Sn-Nb系锆合金包壳管

能源存储材料：Li-Ni-Mn-Co氧化物正极材料（NMC三元系）

检测方法

X射线衍射（XRD）：执行ASTM E975标准，使用Cu-Kα辐射（λ=1.5406Å），步长0.02°，2θ范围10°-90°

电子探针微区分析（EPMA）：依据ISO 17470，加速电压15kV，束流20nA，标样校准ZAF修正

差示扫描量热法（DSC）：按ASTM E967程序，升温速率10℃/min，氮气保护环境

聚焦离子束-透射电镜联用（FIB-TEM）：满足ISO 16700标准，制备＜100nm薄区样品

同步辐射X射线荧光（SR-XRF）：参照ISO 24415，检测限达0.1ppm级

检测设备

XRD系统：Rigaku SmartLab 9kW，配备高温附件（RT-1500℃）

场发射EPMA：JEOL JXA-8530F Plus，WDS分光晶体5通道

超高速DSC：NETZSCH DSC 214 Polyma，升温速率0.01-500K/min

双束FIB-SEM：Thermo Fisher Helios G4 UX，配备OmniProbe™纳米操纵器

同步辐射终端站：上海光源BL14B1线站，单色光能量5-20keV可调

技术优势

获CNAS（注册号详情请咨询工程师）和CMA（证书编号详情请咨询工程师）双认证，符合ISO/IEC 17025体系

配备全系列标样库：含NIST SRM 660c（LaB₆）、JRC RM-FE-1（钢中夹杂物）等218种标准物质

具备原位检测能力：高温XRD（1500℃）、动态气氛DSC（O₂/H₂O混合气）等特殊工况模拟

数据处理系统：集成Jade 10、Thermo-Calc 2023a等专业软件，支持多尺度数据关联分析

团队配置：12名专职研究员（含5名博士）组成技术委员会，累计发表SCI论文46篇