检测项目

1.反射率测定：波长范围400-1000nm，角度分辨率0.01，测量精度0.5%

2.偏振角测量：入射角30-70可调，角度重复性0.02

3.膜厚分析：测量范围10nm-10μm，分辨率达0.1nm

4.折射率测定：精度0.001@632.8nm波长

5.消光系数计算：误差范围≤110⁻@可见光谱段

检测范围

1.光学薄膜：包括AR镀膜、IR截止滤光片、分光膜等

2.半导体材料：硅晶圆、GaAs基板、氮化镓外延层

3.金属涂层：铝/银反射镜、ITO透明导电膜

4.高分子材料：PET离型膜、PC扩散板

5.液晶显示面板：偏光片、相位差膜组

检测方法

ASTME903-20：材料太阳吸收的测试方法

ISO13696:2002：光学元件反射率的测量规程

GB/T26323-2010：光学功能薄膜折射率测试方法

GB/T31370-2015：平板显示器用光学薄膜测试规范

JISK7150-3:2021：塑料光学特性试验方法第三部分

检测设备

1.J.A.WoollamM-2000UI型全自动椭偏仪：支持190-1700nm宽光谱测量

2.HoribaUVISEL2相位调制型光谱椭偏仪：配备XYZ自动样品台

3.ShimadzuISN-723积分球反射计：符合CIENo.15标准要求

4.AgilentCary7000全能型分光光度计：配置UMA附件进行绝对反射测量

5.BrukerD8DiscoverX射线反射仪：用于超薄膜层分析（＜10nm）

6.OceanInsightFX-VIS-NIR光纤光谱仪：集成偏振控制模块

7.PerkinElmerLambda1050+双光束分光光度计：配备150mm积分球

8.FilmetricsF40系列薄膜分析系统：快速测量模式达1秒/点

9.SentechSE850adv旋转补偿型椭偏仪：支持高温（600℃）原位测试

10.HolmarcHO-TH-02显微椭偏系统：空间分辨率达1μm量级

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与偏光反射法测试相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。