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异号位错检测

  • 原创官网
  • 2025-05-22 20:54:18
  • 关键字:异号位错测试案例,异号位错测试方法,异号位错测试范围
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异号位错检测概述:检测项目1.位错密度测量:定量分析单位体积内异号位错数量级(10^4-10^8cm^-2)2.位错分布形态表征:包括线状位错网络、缠结结构及胞状组织的空间分布3.伯氏矢量测定:通过衍射衬度法确定b矢量方向偏差(精度0.01nm)4.位错运动特性分析:临界分切应力测试(0.1-500MPa量程)5.异号位错相互作用强度:采用HR-EBSD测量局部晶格畸变(角度分辨率0.01)检测范围1.金属合金:钛基高温合金涡轮叶片中的α/β相界面位错2.半导体材料:硅晶圆(111)面滑移位错的亚表面分布3.陶瓷材料:Al


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检测项目

1.位错密度测量:定量分析单位体积内异号位错数量级(10^4-10^8cm^-2)

2.位错分布形态表征:包括线状位错网络、缠结结构及胞状组织的空间分布

3.伯氏矢量测定:通过衍射衬度法确定b矢量方向偏差(精度0.01nm)

4.位错运动特性分析:临界分切应力测试(0.1-500MPa量程)

5.异号位错相互作用强度:采用HR-EBSD测量局部晶格畸变(角度分辨率0.01)

检测范围

1.金属合金:钛基高温合金涡轮叶片中的α/β相界面位错

2.半导体材料:硅晶圆(111)面滑移位错的亚表面分布

3.陶瓷材料:Al2O3-ZrO2复相陶瓷晶界位错钉扎效应

4.复合材料:碳纤维增强铝基复合材料的界面位错群

5.单晶材料:蓝宝石衬底生长GaN薄膜的穿透位错密度

检测方法

1.ASTME112-13:金相显微镜定量位错密度测定法

2.ISO643:2019:透射电镜(TEM)伯氏矢量标定规程

3.GB/T13298-2015:金属显微组织检验方法

4.ISO24173:2009:电子背散射衍射(EBSD)晶体取向分析

5.GB/T39488-2020:X射线衍射(XRD)位错密度计算规范

检测设备

1.FEITecnaiG2F30场发射透射电镜:300kV加速电压,0.19nm点分辨率

2.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪:CuKα辐射源(λ=0.15406nm)

3.ZeissCrossbeam550聚焦离子束扫描电镜:5nm电子束分辨率

4.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器:全菊池带采集速度≥3000pps

5.ShimadzuHMV-G21显微硬度计:载荷范围0.01-2000gf

6.KeysightNanoIndenterG200:连续刚度测量模式(CSM)

7.MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪:高温附件支持1600℃原位测试

8.JEOLJEM-ARM300F原子分辨率电镜:信息极限0.08nm

9.LeicaDM2700M金相显微镜:500万像素CCD图像采集系统

10.Agilent5500原子力显微镜:接触/非接触双模式扫描

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报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

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标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

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  以上是与异号位错检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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