检测项目

1.粒度分布：D10/D50/D90值测定（0.1-1000μm范围），跨度指数计算

2.比表面积：BET法测定（0.01-2000m/g），孔隙率分析

3.热稳定性：TGA法测定分解温度（50-1500℃），失重速率分析

4.元素组成：XRF/ICP-OES测定主量元素（ppm级精度）

5.晶体结构：XRD半定量分析非晶相含量（＞95%精度）

检测范围

1.金属基非晶合金粉末（Fe基/Zr基/Co基体系）

2.陶瓷前驱体溶胶凝胶粉末（SiO₂/Al₂O₃/ZrO₂体系）

3.高分子聚合物微粉（聚酰亚胺/聚醚醚酮/聚苯硫醚）

4.药物活性成分无定形分散体（API含量20-80%）

5.锂离子电池负极硅碳复合粉体（粒径≤50μm）

检测方法

1.ASTMB822-20激光衍射法粒度分析标准

2.ISO9277:2010BET氮吸附比表面测试规范

3.GB/T19421-2022差示扫描量热法测定玻璃化转变温度

4.GB/T13390-2008X射线荧光光谱通则

5.ISO16258-1:2015工作场所空气中可吸入结晶二氧化硅测定

检测设备

1.马尔文Mastersizer3000：激光粒度仪（0.01-3500μm）

2.麦克仪器TriStarIIPlus：全自动比表面及孔隙度分析仪

3.梅特勒TGA/DSC3+：同步热分析仪（1600℃）

4.布鲁克D8ADVANCE：X射线衍射仪（Cu靶,40kV）

5.赛默飞iCAPPRO：电感耦合等离子体发射光谱仪

6.岛津EDX-8000：能量色散X射线荧光光谱仪

7.安捷伦Cary630：傅里叶变换红外光谱仪

8.QuantachromeAutosorb-iQ：化学吸附分析仪

9.日立SU5000：场发射扫描电镜（1nm分辨率）

10.MalvernZetasizerNanoZS：纳米粒度及Zeta电位仪