光盘照片检测

检测项目1.反射率测试:波长650nm处反射率≥70%,误差范围2%2.透射率分析:可见光波段(380-780nm)透射率≤5%3.表面粗糙度:Ra值≤0.8nm(原子力显微镜测量)4.数据层厚度:金属记录层厚度1205nm(X射线荧光法)5.加速老化测试:85℃/85%RH环境下保持500小时无数据损失6.翘曲度检测:径向偏差≤0.6mm(GB/T28046标准)检测范围1.CD-R/DVDR类有机染料型光盘2.BD-R蓝光金属相变光盘3.M-DISC无机岩石存储介质4.银合金反射层商用母盘5.光致聚合

原创阅读 122025-05-28工程师CMACNASISO高新技术企业

检测项目

1.反射率测试:波长650nm处反射率≥70%,误差范围2%

2.透射率分析:可见光波段(380-780nm)透射率≤5%

3.表面粗糙度:Ra值≤0.8nm(原子力显微镜测量)

4.数据层厚度:金属记录层厚度1205nm(X射线荧光法)

5.加速老化测试:85℃/85%RH环境下保持500小时无数据损失

6.翘曲度检测:径向偏差≤0.6mm(GB/T28046标准)

检测范围

1.CD-R/DVDR类有机染料型光盘

2.BD-R蓝光金属相变光盘

3.M-DISC无机岩石存储介质

4.银合金反射层商用母盘

5.光致聚合物全息存储介质

6.特殊防护涂层军用加密光盘

检测方法

1.ISO/IEC17321-1:2023数字图像质量测量方法

2.ASTMD6864-21光盘表面缺陷分级标准

3.GB/T28046-2019光学存储介质环境试验规范

4.ISO/IEC10995:2019数据耐久性评估规程

5.JISX6243-2020光盘机械特性测试方法

6.GB/T26225-2010光盘信号参数测量指南

检测设备

1.HitachiU-4100双光束分光光度计:波长精度0.08nm

2.BrukerContourGT-X8三维光学轮廓仪:垂直分辨率0.01nm

3.ThermoFisherARLQUANT'XEDXRF光谱仪:元素分析精度0.1wt%

4.ESPECPL-3J恒温恒湿箱:温控精度0.3℃/RH1%

5.KeyenceVHX-7000数字显微镜:5000倍超景深观测

6.Agilent8700LD激光衍射仪:粒径分析范围10nm-3000μm

7.ShimadzuAGS-X万能材料试验机:载荷分辨率0.001N

8.PerkinElmerDMA8000动态机械分析仪:模量测量范围1MPa-100GPa

9.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:Z轴分辨率1nm

10.TektronixDPO7254示波器:25GHz带宽信号完整性分析

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

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