细颗粒检测

检测项目

1.粒径分布：D10/D50/D90值测定（0.1μm-1000μm）

2.质量浓度：单位体积颗粒物含量（μg/m）

3.比表面积：BET法测定（0.01-2000m/g）

4.Zeta电位：电泳迁移率测定（200mV）

5.形貌分析：球形度/长径比（SEM/TEM成像）

6.孔隙率：压汞法/气体吸附法（2nm-500μm孔径）

检测范围

1.金属粉末：钛合金/铝合金/铜基粉末冶金材料

2.陶瓷材料：碳化硅/氮化铝/氧化锆超细粉体

3.药品颗粒：吸入制剂/缓释微球/纳米晶原料药

4.环境粉尘：PM2.5/PM10/工业排放气溶胶

5.化工催化剂：分子筛/贵金属负载型催化剂

6.食品添加剂：二氧化硅/碳酸钙功能性颗粒

检测方法

1.激光衍射法：ASTMB822-20/ISO13320:2020

2.动态光散射法：ISO22412:2017/GB/T29022-2021

3.电感应区法：GB/T29024.3-2020/ISO21501-4:2018

4.X射线沉降法：JISZ8825:2013/GB/T19077-2016

5.图像分析法：ASTME2859-11(2021)/ISO13322-2:2021

6.β射线吸收法：HJ93-2013/EPAMethodIO-2.3

检测设备

1.Mastersizer3000（马尔文帕纳科）：激光衍射粒径分析仪（0.01-3500μm）

2.ZetaPALS（布鲁克海文）：动态光散射/Zeta电位联用仪（0.3nm-10μm）

3.Multisizer4e（贝克曼库尔特）：电感应区法颗粒计数器（0.4-1600μm）

4.SA-9650（堀场制作所）：动态图像粒度粒形分析系统（1-30000μm）

5.TriStarIIPlus（麦克仪器）：全自动比表面及孔隙度分析仪（0.35-500nm）

6.NS500（富奇诺）：纳米粒度及Zeta电位分析仪（0.3-10000nm）

7.Morphologi4（马尔文帕纳科）：全自动静态图像粒度粒形仪（0.5-1000μm）

8.APS3321（TSI）：空气动力学粒径谱仪（0.5-20μm）

9.ELPI+（Dekati）：电低压冲击器级联采样器（6nm-10μm）

10.AeroTrak9310（TSI）：手持式空气颗粒计数器（0.3-25μm）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"细颗粒检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。