检测项目

光学性能检测：

• 透过率检测：波长范围200-2500nm透过率≥99.5%（参照ISO 10110-7）
• 折射率均匀性检测：折射率偏差±0.0005，空间分辨率0.1mm
• 双折射检测：最大双折射值Δn≤0.0001（参照GB/T 1185）

• 硬度检测：维氏硬度HV≥1500（载荷500gf）
• 断裂韧性检测：K_IC≥2 MPa·m^1/2（三点弯曲法）
• 抗压强度检测：压缩强度≥1000MPa

• 表面粗糙度检测：Ra≤0.5nm（AFM测量）
• 划痕检测：划痕深度≤0.2μm（参照ISO 10110-5）
• 表面缺陷检测：点缺陷密度≤0.1/cm²

• 热膨胀系数检测：CTE≤5×10^-6/K（-50°C至200°C）
• 热稳定性检测：无开裂或变形（热循环100次）
• 热导率检测：热导率≥10 W/m·K

• 杂质含量检测：金属杂质≤1ppm（ICP-OES法）
• 化学成分均匀性检测：元素偏差±0.01wt%
• 耐腐蚀性检测：无腐蚀（酸碱浸泡24h）

• 介电常数检测：ε_r≤10（1MHz）
• 电阻率检测：体积电阻率≥10¹² Ω·cm
• 压电系数检测：d₃₃≥10 pC/N

• 几何尺寸检测：长度偏差±0.01mm（参照GB/T 1800）
• 平面度检测：平面度误差≤λ/10（λ=632.8nm）
• 平行度检测：平行度误差≤10 arcsec

• 光学均匀性检测：折射率梯度≤1×10^-6/cm
• 应力双折射检测：应力值≤5 nm/cm
• 色散均匀性检测：色散系数偏差±0.1%

• 激光损伤阈值检测：LIDT≥10 J/cm²（1064nm激光）
• 损伤形貌分析：损伤点尺寸≤10μm
• 抗激光老化检测：无性能衰减（连续照射100h）

• 湿度稳定性检测：透过率变化≤0.1%（95%RH）
• 温度循环检测：无裂纹（-40°C至85°C）
• 真空适应性检测：无放气（10^-6 Pa）

检测范围

1. 石英晶体： 用于紫外激光器和光学透镜，重点检测透过率和双折射均匀性。

2. 蓝宝石晶体： 作为红外窗口材料，侧重表面硬度和热稳定性。

3. 氟化钙晶体： 应用于深紫外光学系统，核心检测化学纯度和激光损伤阈值。

4. 钇铝石榴石晶体： 用于固态激光器，强调折射率均匀性和热导率。

5. 磷酸二氢钾晶体： 作为非线性光学材料，重点检测电光系数和表面缺陷。

6. 铌酸锂晶体： 用于电光调制器，核心评估压电性能和介电常数。

7. 硫化锌晶体： 应用于红外透射窗口，侧重机械强度和耐腐蚀性。

8. 氧化锌晶体： 用于紫外探测器，重点检测电阻率和杂质含量。

9. 硅晶体： 作为红外光学材料，核心评估尺寸精度和表面粗糙度。

10. 锗晶体： 用于热成像系统，侧重热膨胀系数和激光损伤性能。

检测方法

国际标准：

• ISO 10110-5:2015 光学元件表面缺陷检测方法
• ISO 10110-7:2017 光学材料透过率测试规程
• ISO 14707:2015 表面化学分析辉光放电光谱法
• ISO 4287:1997 表面粗糙度参数测量
• ISO 11357-3:2018 热分析差示扫描量热法

• GB/T 1185-2006 光学晶体透过率测试方法
• GB/T 1800-2020 产品几何技术规范尺寸公差
• GB/T 4334-2020 材料腐蚀试验方法
• GB/T 228.1-2021 材料拉伸试验方法
• GB/T 4340-2009 金属维氏硬度试验

检测设备

1. 紫外-可见分光光度计： Lambda 950型号（波长范围175-3300nm，分辨率0.05nm）

2. 激光干涉仪： Zygo GPI型号（精度λ/100，波长632.8nm）

3. 原子力显微镜： Dimension Icon型号（分辨率0.1nm，扫描范围100μm）

4. 维氏硬度计： HV-1000型号（载荷范围10-1000gf，精度±1%）

5. X射线衍射仪： D8 Advance型号（角度精度0.0001°，检测限0.01wt%）

6. 傅里叶变换红外光谱仪： Nicolet iS50型号（波段4000-400cm⁻¹，分辨率0.09cm⁻¹）

7. 激光损伤测试系统： LDT-2000型号（激光能量0-100J/cm²，波长1064nm）

8. 热分析仪： DSC 3500型号（温度范围-180°C至600°C，精度±0.1°C）

9. 电子万能试验机： Instron 5967型号（载荷范围0.02-50kN，应变率控制0.0001-1000mm/min）

10. 等离子体发射光谱仪： Optima 8300型号（检测限0.001ppm，元素范围Li-U）

11. 表面轮廓仪： Dektak XT型号（垂直分辨率0.01nm，扫描长度100mm）

12. 环境试验箱： CTS T-40型号（温度范围-70°C至180°C，湿度控制10-98%RH）

13. 电阻率测试仪： Keithley 6517B型号（电阻范围10⁶-10¹⁶ Ω，电压0-1000V）

14. 光学均匀性测试仪： COS-H100型号（分辨率10^-6，测试面积100mm×100mm）

15. 真空测试腔： VTC-200型号（真空度10^-6 Pa，温度控制±1°C）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与光学晶体检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。