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概述:检测项目 物理特性检测: 粒度分布:D10、D50、D90值(激光衍射法,参照ISO 13320) 比表面积:BET法比表面积(m²/g,参照GB/T 19587) 粉末密度:松装密度≤0.85g/cm³,振实密度≥1.5g/cm³(参照GB/T 1479/GB/T 5162) 化学成分检测: 总碳含量:红外吸收法(检测限0.01%,参照ASTM E1019) 游离碳含量:热重分析法(TG,精度±0.05%,参照ISO 4496) 金属杂质:Fe≤0.05%,Ca≤0.01%(ICP-OES法,参照GB/
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物理特性检测:
1. 碳化钨粉(WC): 检测总碳/游离碳比例(6.13±0.05%)、费氏粒度控制(0.8-20μm)、钴镍等粘结金属残留量,重点保证硬质合金烧结密度与硬度。
2. 碳化钛粉(TiC): 严控氧含量(≤0.5%)、氮含量(≤0.1%),侧重XRD检测TiC立方相纯度,用于高温合金增强相制备。
3. 碳化钽/碳化铌粉(TaC/NbC): 检测钽铌氧化物杂质(Ta₂O₅≤0.3%),比表面积(1-3m²/g)控制,重点服务耐熔合金与涂层材料。
4. 复合碳化粉(WC-TiC-TaC): 多元素成分均一性分析(EDX面扫描),混合粒度分布拟合,确保梯度硬质合金成分梯度。
5. 纳米碳化粉(d50<100nm): 高精度TEM晶粒尺寸统计,团聚指数(CI≤1.3)检测,表面活性剂残留量(TGA)控制。
6. 喷涂碳化钨粉(WC-CoCr): 包覆层完整性(SEM截面分析),流动性(霍尔流速≤25s/50g),等离子喷涂沉积效率验证。
7. 碳化硅粉(SiC): α相含量(≥95%,XRD定量),金属杂质(Fe,Al≤0.02%),用于陶瓷烧结与磨料性能控制。
8. 碳化硼粉(B₄C): 硼碳化学计量比(B:C=4:1±0.1),中子吸收截面测试(≥600barn),核工业屏蔽材料关键指标。
9. 碳化铬粉(Cr₃C₂): 铬含量(≥85%),氧含量(≤0.8%),耐磨涂层抗热震性关联参数检测。
10. 掺杂碳化粉(VC/Cr₃C₂改性WC): 掺杂剂分布均匀性(EPMA线扫描),晶粒生长抑制效率(烧结后晶粒度≤0.5μm)。
国际标准:
1. 激光粒度分析仪: Malvern Mastersizer 3000(测量范围0.01-3500μm,精度±1%)
2. 比表面及孔隙度分析仪: Micromeritics ASAP 2460(比表测试范围0.0005m²/g至无上限,分辨率0.0001m²/g)
3. X射线衍射仪: Bruker D8 ADVANCE(Cu靶Kα辐射,角度重现性±0.0001°)
4. 扫描电子显微镜: Zeiss Sigma 500(分辨率1.0nm@15kV,低真空模式)
5. 高频红外碳硫仪: Horiba EMIA-920V(碳检测范围0.0001-10%,精度±0.2ppm)
6. 电感耦合等离子体光谱仪: PerkinElmer Avio 550(轴向观测,元素检测限ppb级)
7. 同步热分析仪: Netzsch STA 449 F5(TG分辨率0.1μg,DSC噪声水平0.2μW)
8. 真密度分析仪: Quantachrome Ultrapyc 5000(氦气置换法,精度±0.01%)
9. 粉末流动性测试仪: Pharma Test PTG-S4(霍尔流速计,漏斗锥度60°±0.5°)
10. 振实密度仪: Quantachrome Dual Autotap(振动频率250±15次/分,振幅3±0.1mm)
11. X射线光电子能谱仪: Thermo Scientific K-Alpha+(空间分辨率≤30μm,能量分辨率0.5eV)
12. 纳米粒度电位仪: Malvern Zetasizer Ultra(粒径范围0.3nm-10μm,Zeta电位±500mV)
13. 压汞仪: Micromeritics AutoPore V(孔径范围0.003-360μm,最大压力60000psi)
14. 四探针电阻率仪: Lucas Labs PRO4-440N(电阻率范围10⁻⁴-10⁷ Ω·cm)
15. 高梯度磁选仪: Eriez HGMS(磁场强度0-2T,流速可调0.1-10L/min)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"碳化粉检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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