检测项目

光学性能检测：

• 熔接损耗：平均插入损耗（≤0.03dB，参照IEC 61300-3-34）、回波损耗（≥60dB）
• 端面几何检测：纤芯偏移量（≤0.5μm）、光纤间距（≤1μm，IEC 61755-3）
• 光谱特性：1550nm窗口附加损耗（Δα≤0.02dB/km）

• 拉伸强度：断裂负荷（≥5N，GB/T 15972.31）
• 弯曲性能：最小弯曲半径下附加损耗（≤0.1dB@R=30mm）
• 热缩保护套剥离力：轴向分离力（≥40N，YD/T 1024）

• 温度循环：-40℃~+85℃ 100次循环后损耗变化（ΔIL≤0.05dB）
• 湿热老化：85℃/85%RH 1000h后强度保持率（≥90%）
• 振动试验：10Hz~55Hz 3轴向振动后结构完整性（IEC 60068-2-6）

• 热缩管收缩均匀性：径向收缩率（≥70%）
• 密封性：IP68等级浸水试验（1m水深72h）
• 残余应力：偏振串音变化（ΔPEXT≤0.5dB）

• 包层同心度误差：≤0.5μm（IEC 60793-1-20）
• 涂覆层直径偏差：±3μm（GB/T 9771.1）
• 熔接点凸起高度：≤15μm

• 涂层热分解温度：≥400℃（TGA法）
• 填充膏相容性：体积膨胀率（≤5%）

• 绝缘电阻：≥5000MΩ（DC 500V）
• 耐电压强度：AC 3kV/1min无击穿

• 应力腐蚀敏感性：动态疲劳参数（nd≥20）
• 氢损加速试验：138℃ 96h损耗增量（Δα≤0.03dB/km）

• 断口形貌：SEM显微分析（放大5000X）
• 元素污染检测：EDS能谱分析（Na⁺含量≤0.1ppm）

• OTDR双向测试：事件盲区（≤0.8m）
• 色散特性：PMD系数（≤0.1ps/√km）

检测范围

1. G.652.D单模光纤： 重点检测1310/1550nm窗口熔接损耗及PMD特性

2. OM3/OM4多模光纤： 侧重850nm波段几何对准精度与模式噪声评估

3. G.657.A2弯曲不敏感光纤： 特殊检测7.5mm弯曲半径下熔接点附加损耗

4. 掺铒光纤： 核心检测1550nm泵浦波段熔接热效应对增益影响

5. 保偏光纤： 严格测试熔接点偏振消光比劣化值（≤0.5dB）

6. 抗辐射特种光纤： 侧重γ射线辐照后熔接点损耗稳定性

7. 海底光缆光纤单元： 重点验证高压水密环境下的熔接机械可靠性

8. 军用加固型光缆： 特殊检测弹道冲击后熔接点存活率

9. 气吹微缆光纤： 关注微弯敏感性与熔接点抗侧压能力

10. 光子晶体光纤： 特殊检测空气孔结构变形导致的模式失配损耗

检测方法

国际标准：

• IEC 61300-3-34：光纤互连装置衰减测量（基准测试法）
• IEC 60793-1-40：光纤抗弯性能测试（四点加载法）
• ITU-T L.13：光缆接头盒密封性测试（水浸法）
• TIA-455-59：光纤拉伸强度测试（两点夹持法）

• GB/T 15972.31：光纤机械性能试验方法（张力疲劳）
• GB/T 7424.2：光缆环境性能试验（温度循环）
• YD/T 1024：光纤固定接头保护组件技术条件
• GB/T 9771：通信用单模光纤系列（几何参数测试）

检测设备

1. 熔接损耗分析仪： EXFO MaxTester 730B（动态范围45dB，分辨率0.001dB）

2. 光纤熔接机： Fujikura 70S+（纤芯对准精度±0.02μm，放电精度±0.1ms）

3. 光时域反射仪： VIAVI MTS-6000（事件盲区0.6m，衰减死区2m）

4. 光纤拉力测试机： DAGE Series 4000（量程0-50N，精度±0.2%）

5. 环境试验箱： ESPEC PL-3KPH（温控范围-70℃~180℃，湿度范围10-98%RH）

6. 三维振动台： LING Dynamic Systems V964（频率范围5-3000Hz，最大加速度100g）

7. 光纤端面干涉仪： Norland AC-3000（垂直分辨率0.01μm，曲率半径测量精度±5%）

8. 偏振分析仪： General Photonics PSD-400（波长范围1260-1640nm，PER测量精度±0.1dB）

9. 光谱分析仪： Yokogawa AQ6370D（波长精度±0.01nm，动态范围78dB）

10. 扫描电镜： Hitachi Regulus 8230（分辨率1.0nm@15kV，放大倍数20-800,000X）

11. 光纤几何参数仪： Norland FC-300（包层直径测量精度±0.1μm，纤芯偏心率分辨率0.05μm）

12. 高精度光功率计： Newport 2936-R（波长范围800-1700nm，不确定度±0.015dB）

13. 氢老化试验装置： 定制系统（温度控制精度±0.5℃，H₂浓度监测范围0-1000ppm）

14. 密封性测试仪： Uson AccuTrak 2000（泄漏检测灵敏度5×10⁻⁸mbar·L/s）

15. 微弯敏感测试台： 定制设备（压力分辨率0.01N，位移精度

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

　　以上是与光缆熔接性能检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。