检测项目

锆（Zr）与铪（Hf）含量比例分析：检测精度±0.01%，浓度范围0.1-99.9%

杂质元素含量测定：包括Fe、Al、Ti、U、Th等，检出限≤5 ppm

物相结构分析：XRD半定量分析α-Zr、β-Zr相含量，误差＜2%

粒度分布检测：D50粒径测定范围0.1-500 μm，重复性RSD＜1.5%

密度与孔隙率测试：阿基米德法测定真密度，精度±0.01 g/cm³

检测范围

核工业用锆铪合金：核燃料包壳管、反应堆结构件

高温陶瓷材料：ZrO₂-HfO₂复合耐火材料

催化剂载体：石油裂解用多孔锆铪氧化物

电子元器件镀层：半导体用Hf-Zr薄膜材料

医用植入材料：生物相容性锆铪合金假体

检测方法

X射线荧光光谱法（ASTM C1234-18）：主量元素定量分析

电感耦合等离子体质谱法（ISO 17294-2:2016）：痕量杂质检测

X射线衍射分析法（GB/T 17432-2012）：晶体结构鉴定

激光散射粒度分析（ISO 13320:2020）：粒径分布测定

气体置换法密度测试（GB/T 24586-2009）：真密度测量

检测设备

Thermo Scientific ARL PERFORM'X 4200 XRF光谱仪：配备Rh靶X光管，元素检测范围B-U

Agilent 8900 ICP-MS三重四极杆质谱仪：质量数范围2-260 amu，检出限达ppt级

Bruker D8 ADVANCE XRD衍射仪：Cu靶Kα辐射，2θ范围5-160°

Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500 μm，干湿两用系统

Micromeritics AccuPyc II 1340气体比重仪：氦气介质，0.01 cm³重复精度