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光学分象系统检测

  • 原创官网
  • 2025-03-10 17:10:20
  • 关键字:光学分象系统项目报价,光学分象系统测试方法,光学分象系统测试仪器
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光学分象系统检测概述:光学分象系统检测通过专业手段评估系统的光学性能与可靠性,核心检测指标包括像面分辨率、畸变率、透过率等参数。检测范围涵盖光学元件、精密仪器及工业设备,严格遵循ASTM、ISO、GB等标准,采用高精度干涉仪与光谱分析设备,确保数据客观性与可追溯性。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

像面分辨率检测:检测空间频率≥50 lp/mm,MTF值≥0.6@30 lp/mm

光学畸变率检测:全视场畸变≤0.1%,局部畸变≤0.05%

透过率均匀性检测:波长范围400-1000nm,均匀性误差≤±2%

光谱响应范围检测:覆盖波段200-2500nm,响应线性度误差≤1.5%

杂散光抑制比检测:暗场杂散光系数≤1×10⁻⁴,亮场对比度≥1000:1

检测范围

光学透镜与棱镜组件:包括非球面透镜、衍射光学元件(DOE)

投影及显示系统:激光投影机、AR/VR光学模组

工业检测设备:机器视觉镜头、半导体光刻系统

医疗成像仪器:内窥镜光学系统、OCT检测模块

航空航天光学组件:星载多光谱相机、红外导引头

检测方法

像面分辨率检测:ISO 9334-2017《光学系统成像质量评价方法》

光学畸变率检测:ASTM E1951-14《光学畸变测量标准指南》

透过率检测:GB/T 7962.4-2010《无色光学玻璃测试方法 第4部分:光谱透过率》

光谱响应校准:IEC 60904-8-2014《光伏器件光谱响应测量》

杂散光分析:GB/T 26332.5-2015《光学和光子学 光学薄膜 第5部分:激光损伤阈值测试》

检测设备

Zygo Verifire MST干涉仪:波长632.8nm,精度λ/200,用于波前像差与面形检测

PerkinElmer Lambda 1050分光光度计:波长175-3300nm,分辨率0.05nm,测试透过率与反射率

Ocean Optics USB4000光谱仪:检测范围200-1100nm,积分时间10ms-10min,支持光纤耦合

Optikos CORE系列MTF测试仪:空间频率0-200 lp/mm,重复精度±0.02 MTF

Bentham PVE300光伏特性测试平台:光谱响应测量波长范围300-1800nm,光强稳定性±0.5%

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与光学分象系统检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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