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概述:半导体洁净室粒子过滤效率检测的核心是评估空气过滤系统对悬浮粒子的去除性能,确保洁净室满足严格的ISO Class标准。关键检测项目包括HEPA/JianCePA过滤器的过滤效率(≥99.97% at 0.3μm)、粒子浓度计数(粒子数/m³)、风速均匀性(偏差±20%以内)及泄漏率(≤0.01%)。检测涵盖过滤器完整性、气流分布和化学污染物控制,为半导体制造提供无尘环境保障,参照ISO 14644系列标准进行量化分析。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
因篇幅原因,CMA/CNAS证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
过滤效率测试:
1.HEPA过滤器:适用于Class5-8洁净室,检测重点为过滤效率和泄漏率,确保粒子去除率达标
2.JianCePA过滤器:用于Class1-4高洁净环境,侧重0.1μm粒子过滤效率和完整性扫描
3.洁净室墙面材料:包括彩钢板和环氧涂层,检测表面粒子沉降率和防静电性能
4.天花板系统:FFU集成天花板,重点检测气流分布均匀性和噪音水平
5.地板材料:高架地板和抗静电PVC,检测粒子产生率和电阻值≤10^6Ω
6.空气处理单元:AHU和MAU系统,检测整体过滤效率和温湿度控制稳定性
7.风机过滤器单元:FFU模块,关注风速一致性和压降特性
8.传递窗:物料传递设备,检测粒子隔离效率和气闸密封性
9.人员防护装备:洁净服和手套,检测粒子渗透率和纤维脱落
10.工具和设备:半导体制造工具,检测运行中粒子产生率和化学排放
国际标准:
1.激光粒子计数器:TSI9306-V3型(检测范围0.1-10μm,精度±5%)
2.风速计:Testo425型(量程0-20m/s,分辨率0.01m/s)
3.压差计:Dwyer477AV型(量程0-500Pa,精度±0.5%)
4.泄漏测试仪:ATIQ100型(扫描速度0.05m/s,灵敏度0.01%)
5.气流可视化设备:DantecDynamics系统(烟雾发生速率0.5L/min)
6.温湿度记录仪:RotronicHC2A-S型(温度范围-40-85°C,湿度范围0-100%RH)
7.声级计:Bruel&Kjaer2250型(范围30-130dB,加权A计权)
8.过滤器测试台:PALASMFP3000型(流量范围10-5000m³/h)
9.VOC检测器:PIDppbRAE3000型(检测限1ppb,范围0-10000ppb)
10.AMC分析仪:IonScienceTiger型(特异性检测酸/碱气体)
11.电阻测试仪:TrekModel152-1型(量程10^3-10^12Ω)
12.粒子发生器:TSI8026型(输出浓度10^6-10^9particles/m³)
13.数据采集系统:NationalInstrumentscDAQ-9188型(采样率100kHz)
14.光谱分析仪:Agilent4300型(波长范围190-1100nm)
15.气溶胶光度计:ATITDA-5H型(灵敏度0.0001μg/m³)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"半导体洁净室粒子过滤效率检测检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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