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波长通道保护环检测

  • 原创官网
  • 2025-03-12 15:49:28
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波长通道保护环检测概述:波长通道保护环检测是光通信系统可靠性验证的核心环节,重点针对光学元件在特定波长下的物理性能与光学特性进行定量分析。检测涵盖波长精度、通道隔离度、插入损耗等关键参数,适用于光纤通信器件、光学薄膜组件等材料的质量评估。采用ASTM、ISO及GB/T系列标准,结合高精度光谱分析系统实现多维度数据采集。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

波长范围精度检测:1260-1650nm全波段覆盖,偏差阈值≤±0.05nm

通道隔离度测试:相邻通道≥25dB,非相邻通道≥35dB(C+L波段)

插入损耗稳定性检测:重复性误差<0.02dB@1550nm

偏振相关损耗(PDL):最大波动值≤0.1dB(ITU-T G.694.1标准)

温度循环性能:-40℃~+85℃环境下的波长偏移量≤±0.02nm

检测范围

光纤通信系统用密集波分复用器(DWDM)

光学薄膜型通道保护环组件

硅基光子集成光路(PIC)器件

掺铒光纤放大器(EDFA)保护环模块

激光器阵列保护环耦合系统

检测方法

ASTM E275-08(2021):光学元件光谱透射率测量规范

ISO 13695:2004:光学与光子学-激光器波长稳定性测试方法

GB/T 18311.3-2022:光纤器件第3部分-波长相关参数试验方法

IEC 61746-2:2023:光时域反射计(OTDR)校准规程

GB/T 15972.40-2021:光纤试验方法规范第40部分-传输特性测量

检测设备

Agilent 8164B光波万用表:波长分辨率0.001nm,动态范围70dB

Yokogawa AQ6370D光谱分析仪:波长精度±0.01nm,扫描速度20nm/s

EXFO FTB-5240S偏振控制器:PDL测量不确定度±0.02dB

Keysight N7788B光器件测试系统:支持40通道并行检测

Thermotron SM-32C温控箱:温度变化速率5℃/min,控制精度±0.5℃

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与波长通道保护环检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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