检测项目

波长范围精度检测：1260-1650nm全波段覆盖，偏差阈值≤±0.05nm

通道隔离度测试：相邻通道≥25dB，非相邻通道≥35dB（C+L波段）

插入损耗稳定性检测：重复性误差＜0.02dB@1550nm

偏振相关损耗(PDL)：最大波动值≤0.1dB（ITU-T G.694.1标准）

温度循环性能：-40℃~+85℃环境下的波长偏移量≤±0.02nm

检测范围

光纤通信系统用密集波分复用器(DWDM)

光学薄膜型通道保护环组件

硅基光子集成光路(PIC)器件

掺铒光纤放大器(EDFA)保护环模块

激光器阵列保护环耦合系统

检测方法

ASTM E275-08(2021)：光学元件光谱透射率测量规范

ISO 13695:2004：光学与光子学-激光器波长稳定性测试方法

GB/T 18311.3-2022：光纤器件第3部分-波长相关参数试验方法

IEC 61746-2:2023：光时域反射计(OTDR)校准规程

GB/T 15972.40-2021：光纤试验方法规范第40部分-传输特性测量

检测设备

Agilent 8164B光波万用表：波长分辨率0.001nm，动态范围70dB

Yokogawa AQ6370D光谱分析仪：波长精度±0.01nm，扫描速度20nm/s

EXFO FTB-5240S偏振控制器：PDL测量不确定度±0.02dB

Keysight N7788B光器件测试系统：支持40通道并行检测

Thermotron SM-32C温控箱：温度变化速率5℃/min，控制精度±0.5℃