检测项目
沉淀相尺寸分布：检测范围0.1-50μm，分辨率达10nm
体积分数测定：精度±0.5vol%，检测下限0.1vol%
元素组成分析：EDS检测范围B5-U92，误差±0.5at%
形貌特征表征：包括球形度、长径比等几何参数
界面结合状态：界面能测定精度±0.1J/m²
检测范围
金属合金：铝合金时效析出相、镍基高温合金γ'相
陶瓷材料：ZrO2相变颗粒、SiC增强相
高分子材料：橡胶填料分散相、塑料成核剂
复合材料：碳纤维/环氧树脂界面相
电子材料：焊料IMC层、芯片封装硅微粒
检测方法
ASTM E112：晶粒度测定标准
ISO 13322-1：静态图像分析法
GB/T 13298-2015：金属显微组织检验方法
ASTM E1245：自动图像分析规程
ISO 16700：扫描电镜校准规范
GB/T 30067-2013：纳米材料粒度分析
检测设备
FEI Nova NanoSEM 450：场发射扫描电镜，分辨率0.8nm@15kV
Bruker Quantax 200：能谱仪，探测元素范围B-U
Malvern Mastersizer 3000：激光粒度仪，检测范围0.01-3500μm
Olympus GX71：金相显微镜，最大放大倍率1500X
Shimadzu EBSD：电子背散射衍射系统，角分辨率0.5°
TA Instruments Q400：热重分析仪，温度精度±0.1℃