检测项目

1.磁性金属杂质检测：铁质颗粒，镍质颗粒，钴质颗粒，磁性合金碎屑。

2.弱磁性杂质检测：弱磁响应颗粒，微量过渡金属杂质，细小金属磨屑，混合磁性异物。

3.导电异物检测：导电颗粒，金属细粉，导电纤维，导电碎片。

4.非本征无机杂质检测：硅酸盐异物，铝质颗粒，钙质夹杂，耐火材料碎屑。

5.加工引入污染检测：研磨介质磨损物，混料设备脱落物，筛分金属残留，管道内壁剥落物。

6.原料纯净度检测：原矿伴生杂质，粉体外来夹杂，批次污染物，微量无机异物。

7.颗粒粒径异常物检测：粗大异物颗粒，团聚杂质颗粒，超细异常颗粒，粒径分布偏离物。

8.表面附着异物检测：粉体表面附着金属物，坯体表面污染物，制品表面异物点，附着性颗粒。

9.内部夹杂物检测：烧结体内部金属夹杂，内部黑点异物，致密体埋藏颗粒，层间污染物。

10.杂质含量测定：总杂质量，磁性杂质含量，导电杂质含量，批次间杂质波动。

11.杂质分布检测：表层分布，截面分布，局部富集区域，颗粒间分散状态。

12.杂质来源分析：原料来源污染，加工设备污染，环境落入异物，包装运输引入物。

检测范围

氧化锆原粉、纳米氧化锆粉、稳定氧化锆粉、造粒粉、喷雾干燥粉、氧化锆浆料、氧化锆坯体、氧化锆烧结体、氧化锆陶瓷片、氧化锆陶瓷棒、氧化锆陶瓷管、氧化锆结构件、氧化锆耐磨件、氧化锆密封件、氧化锆研磨介质、氧化锆刀具坯件、氧化锆基复合材料、氧化锆注射成型件

检测设备

1.磁性分离检测装置：用于筛查样品中的磁性颗粒与铁磁性异物，适合粉体及颗粒样品的初步分选。

2.金属探测仪：用于识别样品中导电金属异物，能够对不同粒径金属杂质进行快速检出。

3.显微镜：用于观察杂质颗粒形貌、颜色、边界及分散状态，辅助判别异物类型。

4.电子显微镜：用于分析微细杂质的表面特征与微观结构，适合微米级颗粒识别。

5.元素分析仪：用于测定杂质颗粒或样品中多种元素组成，为杂质来源判断提供依据。

6.光谱分析仪：用于开展无机杂质成分分析，适用于微量金属及伴生元素筛查。

7.粒度分析仪：用于评估样品粒径分布及异常粗颗粒情况，辅助发现团聚物和异物颗粒。

8.图像分析系统：用于统计杂质数量、尺寸及分布特征，提高异物识别与分类效率。

9.密度分选装置：用于分离与富集不同密度的异物颗粒，辅助复杂样品中的杂质检出。

10.切片制样设备：用于对坯体和烧结体进行截面制样，便于观察内部夹杂物和埋藏异物。