检测项目
电阻率测量：范围0.1μΩ·m~10Ω·m，精度±0.05%
温度系数检测：-50℃~300℃温控范围，分辨率0.1℃
横向均匀性分析：扫描间距0.1mm，重复性误差≤2%
轴向梯度测试：每毫米采样率50点，检测长度≥1m
绝缘层阻抗验证：测试电压DC 1000V，漏电流检测下限1nA
检测范围
金属合金材料：铜合金、铝合金棒材及线材
半导体材料：硅晶圆、碳化硅单晶棒
碳基复合材料：石墨棒、碳纤维增强聚合物棒
陶瓷材料：氧化铝导电陶瓷棒、氮化硅基材
高分子导电材料：聚吡咯/PVC复合棒材
检测方法
四线法电阻测量：ASTM B193-20 / GB/T 3048.2-2007
变温电阻测试：IEC 60468:1974 / GB/T 351-2019
微区扫描检测：ISO 1853:2018 第5.3条款
轴向梯度分析法：ASTM D4496-18 方法C
高压绝缘测试：GB/T 1695-2005 第6章规定
检测设备
Keithley 2450源表：四线制电阻测量，最小分辨率0.1μΩ
FLIR A315红外热像仪：实时监测温度分布，热灵敏度0.05℃
Keyence LJ-V7080激光扫描仪：非接触式尺寸测量，重复精度±0.8μm
Chroma 19032耐压测试仪：0-5kV可调，精度等级0.5级
MTS C43.504电子万能试验机：机械强度测试，载荷范围0-50kN