分频晶体振荡器检测

检测项目

频率精度：基准频率偏差范围±0.5ppm~±5ppm

温度稳定性：-40℃~+85℃范围内频率漂移≤±2ppm

相位噪声：10Hz偏移处≤-120dBc/Hz

输出波形质量：上升/下降时间≤5ns，占空比45%~55%

老化率：年漂移量≤±1ppm

检测范围

通信基站用TCXO/DCXO模块

卫星导航系统恒温晶体振荡器(OCXO)

工业级SPXO表面贴装器件

医疗设备用低功耗VCXO组件

汽车电子耐高温晶体单元

检测方法

GB/T 12273-2017《石英晶体元件参数测量方法》

IEC 60679-1:2017压控晶体振荡器通用规范

ASTM F1803-18晶体振荡器加速寿命试验规程

IEEE 113-2002相位噪声测量标准程序

SJ/T 11477-2014温度补偿晶体振荡器技术要求

检测设备

Keysight E5052B信号源分析仪：相位噪声测量分辨率达-180dBc/Hz

Tektronix DPO73304SX示波器：70GHz带宽波形分析系统

R&S FSWP50频谱分析仪：支持1Hz分辨率带宽测试

Espec PL-3KFP高低温试验箱：温控精度±0.3℃

Symmetricom 5120A频率计数器：12位/秒测量分辨率

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"分频晶体振荡器检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。