光交叉连结点检测

检测项目

插入损耗：≤0.5dB@1550nm波长

回波损耗：≥45dB（PC型）/≥60dB（APC型）

偏振相关损耗：≤0.1dB@C波段

波长依赖性：±0.05dB/nm（1520-1620nm）

机械耐久性：≥500次插拔循环后性能波动＜±0.2dB

检测范围

光纤阵列（FAU）：12/24/48芯阵列式连接器

平面光波导芯片（PLC）：1×N分路器芯片

光纤适配器：LC/SC/MPO多模/单模接口

保偏光纤组件：PANDA型/椭圆包层型连接器

微光学透镜阵列：SiO₂基8通道准直器

检测方法

ASTM D4566-19：光纤连接器机械耐久性测试规程

ISO/IEC 61753-1:2018：光纤互连器件环境性能分级标准

GB/T 9771.3-2020：通信用单模光纤系统测试方法

TIA-455-219-A：偏振保持光纤特性测量程序

GB/T 18311.34-2021：光纤器件环境试验第34部分：湿热循环

检测设备

EXFO FTB-200光时域反射仪：动态范围45dB@1550nm

Yokogawa AQ6370D光谱分析仪：波长精度±0.01nm

Aglilent N7788B偏振分析系统：PDL测量分辨率0.001dB

Viavi MTS-8000多业务测试平台：支持OTDR/光谱/色散联合测试

Santec TSL-570可调谐激光源：波长范围1260-1630nm

ILX Lightwave FPM-8210光功率计：测量精度±0.02dBm

Trioptics CentrationPro偏心仪：轴向对准精度±0.1μm

Keysight E5063A网络分析仪：频率范围至18GHz（电域测试）

Tektronix DSA8300采样示波器：80GHz光带宽眼图分析

Espec PL-3KPH气候箱：温控范围-70℃~+180℃（湿热试验）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"光交叉连结点检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。