检测项目

1.电离效率测试:测量电子束能量在10-100keV范围内产生的离子产率(单位:ions/electron)

2.能量分辨率分析:采用半高宽法测定离子能量分布(分辨率≤0.5eV)

3.质量精度验证:使用标准样品验证质荷比(m/z)测量偏差(±0.001Da)

4.束流稳定性监测:连续记录30分钟电子束流波动(RSD<0.8%)

5.二次电子抑制比测试:评估抑制电极对二次电子的抑制效率(≥10^4:1)

检测范围

1.半导体材料:硅晶圆、GaN外延片的表面污染离子分析

2.有机化合物:高分子材料单体残留的分子量分布测定

3.金属合金:钛基复合材料中轻元素(H/He)含量测定

4.环境颗粒物:PM2.5中重金属元素(Pb/Cd/As)的痕量检测

5.生物样本:蛋白质组学样品分子量精确测定(>10kDa)

检测方法

ASTME29-22:标准实践规范用于质谱数据报告的有效数字处理

ISO18117:2022表面化学分析-样品前处理与安装指南

GB/T22374-2018电子探针显微分析通用技术条件

GB/T26125-2023电子电气产品六种限用物质的测定

IEC62321-12:2023电工产品中特定物质的测定-直接进样法

检测设备

1.ThermoScientificOrbitrapFusionLumos:高分辨三合一质谱仪(分辨率>450,000@m/z200)

2.Agilent7890B/7250GC-QTOF:气相色谱-四极杆飞行时间质谱联用系统

3.JEOLJMS-T200GCAccuTOFGC-Alpha:飞行时间质谱仪(质量精度<1ppm)

4.BrukertimsTOFPro2:捕获离子迁移谱系统(CCS精度>0.5%)

5.ShimadzuMALDI-8020:基质辅助激光解吸电离源(激光频率1kHz)

6.PerkinElmerNexION2200ICP-MS:三重四极杆电感耦合等离子体质谱仪

7.WatersXevoG3QTof:四极杆飞行时间质谱(动态范围>5个数量级)

8.HitachiNX9000FIB-SEM:聚焦离子束扫描电镜联用系统(束斑<3nm)

9.Keysight8860GC/5977BMSD:气相色谱-单四极杆质谱联用系统

10.SCIEXTripleTOF7600:高灵敏度四极杆飞行时间质谱仪(扫描速度100Hz)