检测项目
1. 纯度测定：采用电感耦合等离子体发射光谱法（ICP-OES）测定铑含量≥99.95%，误差范围±0.02%
2. 杂质元素分析：涵盖铂（Pt）、钯（Pd）、铁（Fe）等14种元素，单元素限值≤50ppm
3. 粒度分布测试：激光衍射法测定D50值范围0.5-50μm，跨度系数≤1.5
4. 比表面积测定：BET氮吸附法测量范围0.01-2000m²/g
5. 松装密度测试：霍尔流速计法测定值≥3.2g/cm³
检测范围
1. 化工催化剂用高纯铑粉（Rh≥99.99%）
2. 铂铑合金原料粉末（Rh10%-30%）
3. 电子元器件镀层用纳米铑粉（粒径≤100nm）
4. 贵金属回收提纯中间产物
5. 核工业用放射性屏蔽材料
检测方法
1. ASTM E1479-16《贵金属化学分析标准指南》
2. ISO 11876:2010《硬质合金用金属粉末中杂质元素的测定》
3. GB/T 18043-2020《首饰贵金属含量的测定X射线荧光光谱法》
4. GB/T 19077-2016《粒度分布激光衍射法》
5. ISO 9277:2010《气体吸附法测定比表面积》
检测设备
1. Thermo Fisher iCAP 7400 ICP-OES：多元素同步分析系统
2. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪：测量范围10nm-3.5mm
3. Micromeritics ASAP 2460比表面分析仪：孔径测量精度±0.1nm
4. Shimadzu EDX-7000 X射线荧光光谱仪：元素分析范围Be-U
5. Mettler Toledo XP205电子天平：分辨率0.01mg
6. Agilent 7900 ICP-MS：检出限达ppt级
7. Quantachrome Autotap振实密度仪：振动频率250次/分钟
8. Hitachi SU5000场发射电镜：分辨率1nm@15kV
9. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪：角度精度±0.0001°
10. Netzsch STA 449F3同步热分析仪：温度范围RT-1650℃