1. 二氧化铼纯度分析:主成分ReO₂含量≥99.9%,采用差减法计算杂质总量。
2. 杂质元素定量检测:包括Fe、Ni、Cu、K、Na等20种痕量元素,检出限≤0.5ppm。
3. 粒度分布测试:D10≤0.8μm,D50=1.2-2.5μm,D90≤4.0μm。
4. 比表面积测定:BET法测量范围0.01-2000m²/g,精度±3%。
5. 密度与孔隙率:振实密度≥3.5g/cm³,开孔率≤5%。
1. 催化剂用高纯二氧化铼粉末:用于石油裂解及合成氨工艺。
2. 电子元件镀层材料:半导体封装用ReO₂薄膜厚度10-200nm。
3. 高温合金添加剂:航空发动机叶片用ReO₂掺杂量0.1-5wt%。
4. 核工业屏蔽材料:中子吸收复合材料中ReO₂占比≥30%。
5. 化学气相沉积前驱体:ReO₂(CO)₃有机金属化合物纯度≥99.99%。
1. ASTM E1621-22:X射线荧光光谱法测定主量元素含量。
2. ISO 11885:2007:电感耦合等离子体发射光谱法(ICP-OES)分析金属杂质。
3. GB/T 33042-2016:激光衍射法测定粉末粒度分布。
4. ISO 9277:2010:静态容量法BET比表面测试。
5. GB/T 5162-2021:金属粉末振实密度测定通用规程。
1. Rigaku ZSX Primus IV波长色散X射线荧光光谱仪:主成分定量分析精度±0.05%
2. PerkinElmer NexION 350D电感耦合等离子体质谱仪:痕量元素检出限达ppt级
3. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm
4. Micromeritics ASAP 2460比表面及孔隙度分析仪:支持6站并行测试
5. Quantachrome Autotap振实密度仪:振动频率250次/分钟±15次
6. Hitachi SU5000场发射扫描电镜:配合EDS实现微区成分分析
7. Netzsch STA 449F3同步热分析仪:测定分解温度及热稳定性
8. Agilent 7900 ICP-MS:同位素比值测定精度±0.05%
9. Bruker D8 ADVANCE X射线衍射仪:物相鉴定角度重复性±0.0001°
10.Mettler Toledo XPR6微量天平:称量精度0.001mg
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与二氧化铼检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。