电纳检测

电纳检测是评估电气元件在高频电路中的无功导纳特性的关键手段,主要针对电容器、电感器及复合材料的介电性能进行量化分析。检测要点包括频率响应范围(1kHz-10MHz)、温度稳定性(-40℃~150℃)、介质损耗角正切值(tanδ≤0.01)及等效串联电阻(ESR≤50mΩ)。本检测需依据IEC60384、ASTMD150等标准执行。

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检测项目

1.静态电纳值测量:测试频率1kHz5%,量程范围0.05S至5S

2.频率响应特性:扫频范围1kHz-10MHz,分辨率≤0.1%

3.温度系数测试:温控精度0.5℃,温度梯度≤2℃/min

4.介质损耗角正切值:测量精度0.0001(tanδ≥0.001时)

5.等效串联电阻(ESR):测量范围0.1mΩ-100Ω,分辨率1μΩ

检测范围

1.陶瓷介质材料:钛酸钡基高压电容器、氧化铝基微波介质

2.高分子绝缘材料:聚丙烯薄膜电容器、聚四氟乙烯高频基板

3.半导体器件:GaN功率模块寄生电容、SiCMOSFET栅极电容

4.复合介质材料:纳米掺杂聚合物复合材料、云母纸浸渍体系

5.电力电子组件:直流支撑电容器组、谐振电路调谐电感器

检测方法

ASTMD150-18《固体电绝缘材料的交流损耗特性和介电常数标准试验方法》

IEC60384-1:2016《电子设备用固定电容器第1部分:总规范》

GB/T2693-2019《电子设备用固定电容器试验方法》

ISO6721-1:2019《塑料-动态机械性能的测定第1部分:通则》

JISC5101-1:2020《电子设备用固定电容器试验方法通则》

检测设备

KeysightE4990A阻抗分析仪:频率范围20Hz至120MHz,基本精度0.045%

Chroma11040LCR测试系统:最大测试电压100Vrms,四端对测量接口

ThermotronSM-32C温控箱:温度范围-70℃~+180℃,变温速率5℃/min

Agilent4294A精密阻抗分析仪:频率特性40Hz至110MHz,Q值分辨率0.0001

HIOKIIM3590化学阻抗分析仪:支持10mV至5Vrms信号输出,DC偏置40V

FLUKEPM6306自动RLC电桥:基本精度0.05%,测试速度15次/秒

GWInstekLCR-8105G高频测试仪:最高10MHz频率,Δ%比较器功能

TektronixPA3000功率分析仪:带宽5MHz,支持谐波分析至100次

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

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