2025-04-08 12:58:19
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概述：不均匀颗粒检测是评估材料粒径分布均匀性的重要技术手段，主要应用于粉体材料、制药原料及工业催化剂等领域。核心检测参数包括粒径跨度值、形状系数偏差和分布离散度等指标。专业检测需结合激光衍射法、动态图像分析等技术手段，依据ASTMB822、ISO13320等国际标准执行质量控制。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情，因时间等不可抗拒因素会发生变更，请咨询在线工程师。
1.粒径分布范围：测量D10/D50/D90值及跨度值（Span≤1.5为均匀标准）
2.形状系数偏差：采用圆形度（0.85-1.00）和长径比（≤1.3）量化评估
3.密度差异率：通过真密度仪测定相对密度偏差（2%以内）
4.表面粗糙度：使用白光干涉仪测量Ra值（纳米级精度）
5.孔隙率分布：基于压汞法测定孔径分布（0.003-1000μm范围）
1.金属粉末：钛合金/铝合金增材制造用粉体（15-53μm）
2.陶瓷原料：氧化铝/氮化硅精密成型粉体（0.1-10μm）
3.制药颗粒：缓释片剂API与辅料混合物（50-500μm）
4.化工催化剂：分子筛载体及活性组分负载颗粒（1-100nm）
5.食品添加剂：微胶囊化功能性成分（10-200μm）
1.激光衍射法：ASTMB822-20规定干湿法分散程序
2.动态图像分析：ISO13322-2:2021定义形态学参数算法
3.X射线沉降法：GB/T19077-2016粒度分析通用准则
4.电阻法计数：GB/T29023-2012库尔特原理实施规范
5.超声衰减谱：ISO20998-1:2006测量高浓度悬浮液
1.马尔文Mastersizer3000：激光衍射仪（0.01-3500μm）
2.MicrotracMRBCAMSIZERX2：动态成像系统（0.8-8000μm）
3.贝克曼库尔特Multisizer4e：电阻法颗粒计数器（0.4-1600μm）
4.岛津SALD-7500nano：纳米粒度分析仪（7nm-800μm）
5.布鲁克SkyScan1272：显微CT孔隙分析系统（0.5-50μm分辨率）
6.安东帕PSA1190：声学衰减粒度仪（10nm-3000μm）
7.QuantachromeUltrapyc5000：真密度分析仪（氦气置换法）
8.基恩士VHX-7000：数字显微镜三维形貌分析
9.FEIHeliosG4UX：聚焦离子束扫描电镜（1nm分辨率）
10.TAInstrumentsAR2000ex：流变学特性综合分析系统
报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期：7~15工作日，可加急。
资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试：支持定制化试验方案。
售后：报告终身可查，工程师1v1服务。
以上是与"不均匀颗粒检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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