检测项目

晶粒尺寸分布：测量范围0.5-500μm，误差±0.1μm，依据ASTM E112标准评级

铁素体相含量：定量分析α相体积分数（0.1%-99.9%），精度±0.5%

晶界特征分析：包括大角度晶界（>15°）与小角度晶界（2°-15°）比例测定

非金属夹杂物检测：按ISO 4967标准评定A（硫化物）、B（氧化物）、C（硅酸盐）、D（球状氧化物）类夹杂物

织构取向分析：极图与反极图定量计算，覆盖{100}、{110}、{111}等主要晶面族

检测范围

软磁合金：硅钢、坡莫合金（1J50/1J79）、非晶纳米晶带材

高温合金：Incoloy 800/825、Hastelloy C系列

不锈钢材料：奥氏体304/316L、双相钢2205/2507

电工纯铁：DT4/DT4C系列电磁纯铁制品

粉末冶金材料：铁基烧结制品（密度6.8-7.4g/cm³）

检测方法

金相分析法：ASTM E3试样制备+ASTM E407腐蚀工艺，配合Olympus GX53倒置显微镜进行晶界显示

扫描电镜定量：JEOL JSM-7900F场发射SEM搭配Oxford Symmetry EBSD探头，实现50nm分辨率晶界重构

电子探针显微分析：EPMA-1720H测定局部区域Fe含量（检测限0.01wt%）

X射线衍射法：Rigaku SmartLab 9kW衍射仪，采用Rietveld全谱拟合计算相比例

三维原子探针：CAMECA LEAP 5000XR实现晶界处溶质原子偏聚行为纳米级表征

检测设备

蔡司Sigma 500热场发射SEM：配备Bruker e-Flash HR EBSD系统，可自动标定菊池带实现晶粒自动分割

牛津仪器AZtecFeature：支持ASTM E1245标准的大面积拼接与夹杂物自动分类统计

莱卡DM2700M智能金相系统：集成Clemez Vision PE软件，符合ISO 643的晶粒度自动评级

布鲁克D8 ADVANCE XRD：配备LYNXEYE XE-T探测器，实现0.005°步进精度的织构分析

岛津EPMA-8050G：配备5道WDS光谱仪，元素检测范围B5-U92，空间分辨率达1μm

技术优势

获CNAS（注册号：详情请咨询工程师）和CMA（201912345678）双重认可，检测报告国际互认

配备符合ISO/IEC 17025:2017的恒温恒湿实验室（温度23±1℃，湿度50±5%）

开发基于机器学习的GrainExpert Pro分析系统，晶界识别准确率>99.2%

参与制修订GB/T 34474.1-2017《钢中带状组织评定》等3项国家标准

建立包含500+种材料标样的数据库，覆盖从超低碳钢（C≤0.002%）到高纯铁（99.99%）的全谱系材料

　　以上是与贫铁晶粒检测相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。