检测项目

1. 插入损耗：测量波长850/1310/1550nm下典型值≤0.3dB@2km SMF

2. 回波损耗：单模光纤≥50dB（PC端面），多模≥35dB

3. 几何参数：纤芯直径125±1μm（单模），同心度偏差≤0.5μm

4. 偏振相关损耗：≤0.05dB@1550nm波长

5. 环境可靠性：温度循环-40℃~+85℃×100次后衰减变化≤0.1dB

检测范围

1. 单模/多模通信光纤（G.652D/G.651）

2. 光纤连接器（LC/SC/FC/ST型）

3. 光分路器（PLC/FBT型）

4. 光缆组件（铠装/非铠装结构）

5. 光纤传感器（FBG/F-P干涉型）

检测方法

插入损耗：IEC 61300-3-4剪断法/GB/T 9771.3替代法

回波损耗：IEC 61300-3-6光回损测试仪直测法

几何参数：IEC 60793-1-20干涉测量法/GB/T 15972.20

温度循环：GB/T 2423.22 Nb试验程序

机械耐久性：YD/T 2152-2010插拔次数≥500次

检测设备

1. EXFO FTB-200光时域反射仪：动态范围45dB@1550nm

2. Keysight N7788B光波元件分析仪：波长范围1520-1620nm

3. AFL FOCIS系列干涉仪：纤芯直径测量精度±0.1μm

4. ILX Lightwave FPM-8220光功率计：测量范围+3~-70dBm

5. Viavi MTS-8000光谱分析仪：分辨率带宽0.01nm

6. Newport F-PD-L50偏振控制器：消光比＞30dB

7. Chroma 19032温控箱：温变速率±15℃/min

8. OZ Optics LDC-100插拔寿命测试机：最大测试频率60次/min

9. Anritsu MT1000A网络测试仪：支持OTDR/OLTS双模式

10. Thorlabs BP209-IR光束分析仪：空间分辨率5μm@1550nm