检测项目
1. 电流传输比（CTR）：输入电流（IF）10-50mA条件下，输出电流（IC）与IF的比值范围（50%-600%）
2. 隔离电压：初级-次级间耐压测试（AC 3.75kV-5kV/1min）
3. 响应时间：上升时间（tr）与下降时间（tf）测量（典型值3μs-20μs）
4. 输入正向压降（VF）：额定电流下电压值范围（1.1V-1.5V）
5. 绝缘电阻：DC 500V测试电压下阻值≥10^11Ω
检测范围
1. 晶体管输出型光耦（如PC817系列）
2. 高速逻辑门光耦（6N137/6N136）
3. IGBT驱动光耦（TLP350/A316J）
4. 线性光耦（HCNR201/IL300）
5. 光伏输出型光耦（TLP190B/TLP591B）
检测方法
1. CTR测试：依据IEC 60747-5-5第6.3条款搭建恒流源电路
2. 隔离耐压测试：采用GB/T 16927.1规定的工频耐压试验法
3. 动态参数测量：参照JEDEC EIA-490标准使用脉冲发生器+示波器方案
4. 温度特性试验：按GB/T 2423.22执行-40℃~+110℃温度循环测试
5. 寿命评估：基于IEC 62380实施高温高湿加速老化试验（85℃/85%RH）
检测设备
1. Keysight B1505A功率器件分析仪：支持0.1pA~10A电流精度测量
2. Chroma 19032耐压测试仪：AC 5kV/DC 6kV绝缘测试能力
3. Tektronix MSO64B示波器：10GHz带宽响应时间分析
4. Advantest U2761A多功能模块：集成CTR自动测试程序
5. ESPEC SH-642恒温恒湿箱：温控精度±0.5℃
6. Agilent 4156C半导体参数分析仪：IV特性曲线扫描
7. Hioki IR4056-20绝缘电阻计：最高测量量程10^16Ω
8. NF Corporation WF1974函数发生器：0.1Hz~15MHz信号输出
9. Extech LT300光强校准仪：0~200,000lux照度控制
10. Fluke 5500A多产品校准器：电压/电流基准源输出