1. 晶体结构分析:采用X射线衍射(XRD)测定晶面间距(d值范围0.3-3.0nm)及晶型纯度(误差≤0.02°)
2. 化学成分鉴定:通过X射线荧光光谱(XRF)测定Si/Al/Mg等元素含量(精度±0.01wt%)
3. 热稳定性测试:热重分析仪(TGA)测量分解温度(范围25-1200℃,升温速率10℃/min)
4. 表面形貌表征:扫描电镜(SEM)观测微观结构(分辨率1nm),透射电镜(TEM)分析层间堆叠
5. 力学性能测试:万能材料试验机测定抗压强度(载荷范围0-50kN,精度±0.5%)
1. 天然矿物材料:火山岩基富勒石矿石(SiO₂含量≥60%)
2. 工业合成材料:催化剂载体用改性富勒石(比表面积≥200m²/g)
3. 电子封装材料:半导体器件用富勒石绝缘层(介电常数≤4.5)
4. 环保吸附材料:重金属离子吸附用纳米富勒石(孔径分布2-50nm)
5. 复合材料基体:碳纤维/富勒石增强相(界面结合强度≥80MPa)
1. ASTM E1584-17《X射线荧光光谱法测定元素含量》
2. ISO 13320:2020《激光衍射法粒度分布测定》
3. GB/T 17473.7-2022《电子材料热重分析法》
4. ISO 15901-2:2022《介孔材料孔径分布测定》
5. GB/T 30776-2014《催化剂载体抗压强度测试规范》
6. ASTM D792-20《密度梯度柱法测定固体密度》
1. Rigaku SmartLab X射线衍射仪:配备9kW旋转阳极靶,支持GIXRD掠入射模式
2. Hitachi SU5000场发射扫描电镜:配备EDS能谱仪及EBSD电子背散射衍射系统
3. PerkinElmer TGA 8000热重分析仪:内置高精度微量天平(灵敏度0.1μg)
4. Malvern Mastersizer 3000激光粒度仪:测量范围0.01-3500μm
5. Shimadzu AG-X Plus万能试验机:配置100kN载荷传感器及高温夹具
6. Micromeritics ASAP 2460比表面分析仪:BET法比表面积测量精度±1%
7. Bruker D8 ADVANCE XRD系统:配备LYNXEYE XE-T探测器
8. Netzsch STA 449 F5同步热分析仪:同步进行TG-DSC联用测试
9. JEOL JEM-2100F场发射透射电镜:点分辨率0.19nm
10.Agilent 7900 ICP-MS电感耦合等离子体质谱仪:检出限低至ppt级
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"富勒石检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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