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导电箔检测

  • 原创官网
  • 2025-04-24 09:51:46
  • 关键字:导电箔测试方法,导电箔测试范围,导电箔测试仪器
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导电箔检测概述:导电箔作为关键电子材料,其性能直接影响电子元器件可靠性。专业检测涵盖厚度均匀性(±2%)、表面粗糙度(Ra≤0.8μm)、电阻率(≤1.5×10⁻⁶Ω·m)等核心指标,需依据ASTMB193、GB/T5237等标准实施精准测量。本文系统阐述导电箔的标准化检测流程与技术规范。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1. 厚度均匀性:测量精度±0.1μm,允许偏差±2%

2. 表面电阻率:四探针法测试范围1×10⁻⁶~1×10² Ω·m

3. 抗拉强度:电子万能试验机测试量程0~500N

4. 延伸率:标距长度50mm条件下测量精度±0.1%

5. 表面粗糙度:白光干涉仪Ra分辨率0.01μm

6. 热稳定性:高温箱150℃±2℃持续168小时测试

7. 耐腐蚀性:盐雾试验箱5%NaCl溶液连续喷雾96小时

检测范围

1. 电解铜箔:锂离子电池集流体材料

2. 压延铝箔:柔性电路板基材

3. 复合金属箔:铜铝层压电磁屏蔽材料

4. 溅射镀膜箔:ITO透明导电薄膜

5. 纳米银导电膜:触控屏专用材料

6. 石墨烯复合箔:高导热电磁屏蔽材料

7. 镍基合金箔:高温传感器元件基材

检测方法

ASTM B193-20:标准导电材料电阻率测试规程

ISO 6892-1:2019:金属材料室温拉伸试验方法

GB/T 5237-2022:电解铜箔技术条件与检验规则

IEC 60404-13:2018:软磁金属材料直流磁性能测量

JIS H8687-1:2020:阳极氧化膜连续性硫酸铜试验法

GB/T 1771-2007:色漆和清漆耐中性盐雾性能测定

ASTM E112-13:平均晶粒度测定标准试验方法

检测设备

1. RTS-9型四探针电阻测试仪:量程10⁻⁶~10⁵Ω·cm

2. JSM-IT800扫描电子显微镜:分辨率1nm@15kV

3. Instron 5967电子万能试验机:载荷精度±0.5%

4. ZYGO NewView9000白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm

5 |HIOKI RM3545微电阻计:最小分辨率0.01μΩ

6. Q-FOG CCT1100循环腐蚀箱:温度控制±1℃

7. Netzsch DIL402C热膨胀仪:升温速率0~50℃/min

8. KEYENCE VHX-7000数码显微镜:5000倍光学放大

9. Agilent 4294A阻抗分析仪:频率范围40Hz~110MHz

10.Mitutoyo SJ-410表面粗糙度仪:行程长度35mm

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与导电箔检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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