堆积硅珠检测

检测项目

1.粒径分布：测定1-100μm范围内D10/D50/D90值及跨度系数

2.孔隙率：测量总孔隙率（0.1-90%）、孔径分布（2-300nm）

3.比表面积：采用BET法测试20-800m/g比表面积范围

4.化学纯度：SiO₂含量≥99.9%，金属杂质总量≤100ppm

5.机械强度：抗压强度≥50MPa（单颗粒破碎力测试）

检测范围

1.高效液相色谱用硅胶基质填料

2.催化剂载体用多孔硅珠

3.药物缓释系统包覆硅珠

4.电子封装用球形二氧化硅粉体

5.环境治理用吸附型硅基材料

检测方法

ASTMB822-20《金属粉末粒度分布的激光衍射标准测试方法》

ISO15901-2:2022《压汞法和气体吸附法测定孔隙度及孔径分布》

GB/T19587-2017《气体吸附BET法测定固态物质比表面积》

GB/T30414-2013《球形二氧化硅微粉化学分析方法》

ISO6238:2020《精细陶瓷室温下硬质材料的抗弯强度试验方法》

检测设备

1.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：0.01-3500μm粒径分析

2.MicromeriticsAutoPoreV9600压汞仪：3nm-360μm孔径测试

3.QuantachromeNovaWin比表面分析仪：BET比表面积及微孔分析

4.ShimadzuEDX-7000X荧光光谱仪：元素成分及杂质含量测定

5.Instron5967万能材料试验机：单颗粒压缩强度测试

6.JEOLJSM-7900F场发射电镜：微观形貌及表面结构表征

7.NetzschSTA449F3同步热分析仪：热稳定性及灼烧失重测试

8.Agilent1260InfinityIIHPLC系统：色谱柱装填性能验证

9.HoribaLA-960干湿法激光散射仪：宽范围粒径分布测定

10.AntonPaarLitesizer500纳米粒度仪：Zeta电位及胶体稳定性分析

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"堆积硅珠检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。