电子双共振谱学检测概述:电子双共振谱学(Electron Double Resonance Spectroscopy)是一种基于电子自旋共振与核磁共振耦合的高精度分析技术,主要用于研究材料中顺磁中心的结构特性及动态行为。核心检测要点包括自由基浓度测定、自旋-晶格弛豫时间分析、超精细耦合常数测量等参数。该技术适用于半导体材料、生物分子体系及功能材料的缺陷表征与动力学研究。
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.自由基浓度测定:定量分析样品中未配对电子密度(0.1ppm至1000ppm)
2.自旋-晶格弛豫时间(T1):测量范围10ns至10s(5%精度)
3.超精细耦合常数:分辨率达0.1MHz(轴向对称张量分析)
4.零场分裂参数:D值测量精度0.001cm⁻(S=1体系)
5.顺磁中心空间分布:三维定位精度50μm(梯度场模式)
1.半导体材料:硅基/氮化镓晶体的空位缺陷与掺杂剂分析
2.高分子聚合物:交联度评估与自由基老化产物检测
3.生物样品:含金属酶活性中心及氧化应激自由基表征
4.催化剂材料:过渡金属配合物配位结构解析
5.磁性材料:稀土离子局域对称性及交换相互作用研究
1.ASTME3035-22《顺磁共振波谱法测定自由基浓度标准方法》
2.ISO20289:2018《表面化学分析-电子顺磁共振谱学通则》
3.GB/T39434-2020《电子顺磁共振(EPR)谱仪性能测试方法》
4.GB/T40152-2021《功能材料缺陷态电子自旋特性测试规范》
5.DIN51009:2019《无机非金属材料电子双共振测试规程》
1.BrukerELEXSYSE580:配备SuperX-FT微波桥(9-275GHz),支持脉冲/连续波双模式
2.JEOLJES-FA200:带TE011圆柱谐振腔(X波段),灵敏度≥110⁰spins/G√Hz
3.ADANICMS8400:多频段系统(L/S/C波段),集成光激发模块(350-1600nm)
4.MagnettechMS5000:台式微型谱仪(0-1T磁场),配备低温恒温器(80-400K)
5.BrukerEMXnano:紧凑型系统支持原位电化学测试(10V电压控制)
6.JEOLJES-X310:高频Q波段系统(34GHz),配备梯度磁场发生器(最大梯度50G/cm)
7.Specman/ENDOR:专用双共振模块(8-40GHz),核频率覆盖1-600MHz
8.StelarS.r.lFastField:快速扫场单元(100T/s切换速率),支持瞬态过程捕捉
9.OxfordInstrumentsESR900:超低温系统(1.5K基温),集成氦气循环制冷装置
10.RHKTechnologyVT-STM:联用扫描探针系统(空间分辨率≤10nm)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与电子双共振谱学检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。