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钼辐射屏检测

  • 原创官网
  • 2025-05-14 23:02:45
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钼辐射屏检测概述:检测项目1.成分分析:测定钼纯度(Mo≥99.95%)、杂质元素(Fe≤0.005%、Ni≤0.003%、C≤0.01%)2.厚度测量:覆盖0.1-5.0mm范围(精度0.001mm),平面度误差≤0.02mm/m3.密度测试:理论密度≥10.2g/cm(偏差率<0.5%)4.微观结构检验:晶粒度级别8-12级(ASTME112),孔隙率<0.1%5.力学性能测试:室温抗拉强度≥550MPa(GB/T228.1),延伸率≥25%检测范围1.钼合金板材(Mo-TZM/Mo-La₂O₃):用于核反应堆中子吸收


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CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.成分分析:测定钼纯度(Mo≥99.95%)、杂质元素(Fe≤0.005%、Ni≤0.003%、C≤0.01%)

2.厚度测量:覆盖0.1-5.0mm范围(精度0.001mm),平面度误差≤0.02mm/m

3.密度测试:理论密度≥10.2g/cm(偏差率<0.5%)

4.微观结构检验:晶粒度级别8-12级(ASTME112),孔隙率<0.1%

5.力学性能测试:室温抗拉强度≥550MPa(GB/T228.1),延伸率≥25%

检测范围

1.钼合金板材(Mo-TZM/Mo-La₂O₃):用于核反应堆中子吸收组件

2.镀层材料(Mo-SiC/Al₂O₃):高温真空炉辐射屏蔽层

3.焊接件(EBW/LBW接头):加速器靶体密封结构

4.高温退火件(1200℃4h处理):X射线管阳极组件

5.核工业部件:乏燃料贮存容器屏蔽层(厚度≥3mm)

检测方法

1.ASTMB387:钼材化学成分光谱分析法(ICP-OES)

2.ISO4518:镀层厚度X射线荧光法(XRF)

3.GB/T17722:金属覆盖层孔隙率硝酸蒸汽试验法

4.GB/T13298:金相试样制备与显微组织评级规范

5.ISO6892-1:高温拉伸试验(测试温度800℃)

检测设备

1.ThermoScientificARLiSpark8860:火花直读光谱仪(元素分析精度0.0001%)

2.OlympusDSX1000:三维数码显微镜(最大放大倍数6000)

3.MitutoyoLitematicVL-50:非接触式测厚仪(分辨率0.1μm)

4.Instron6800系列:高温万能试验机(最高温度1200℃)

5.BrukerD8ADVANCE:X射线衍射仪(晶粒度分析)

6.ElionixERA-8800FE:场发射电镜(表面形貌观测)

7.NetzschDIL402C:热膨胀仪(CTE测量精度0.110⁻⁶/K)

8.LecoRH-404:氢氧氮分析仪(气体杂质检测限0.1ppm)

9.ZwickRoellZHU2.5:显微硬度计(载荷范围10-1000gf)

10.Agilent7900ICP-MS:质谱仪(痕量元素分析)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与钼辐射屏检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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