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旁通电容器测试

  • 原创官网
  • 2025-02-22 15:01:58
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旁通电容器测试概述:旁通电容器测试是电子元件质量控制的关键环节,需通过电容量、耐压性能、等效串联电阻(ESR)、温度特性及绝缘电阻等核心参数验证器件可靠性。检测过程遵循ISO、IEC及GB/T标准,采用精密仪器确保数据准确性,适用于陶瓷、电解、薄膜等多种材料类型电容器。本文系统阐述检测项目、范围及方法,为行业提供技术参考。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

电容量偏差测试

测试频率:120Hz±10Hz(电解电容)、1kHz±10%(薄膜电容)

允许偏差:±5%(X7R/X5R)、±10%(Y5V)

测试电压:额定电压的1/3(DC)

耐压强度测试

直流耐压:2.5倍额定电压(持续60s)

交流耐压:1.5倍额定电压(50Hz,5s)

漏电流阈值:≤0.01CV(μA)或3mA取较小值

等效串联电阻(ESR)

测量频率:100kHz±1%(高频电容)

温度范围:-55℃~+125℃(温度特性测试)

允许偏差:标称值±20%(铝电解电容)

温度循环测试

温度范围:-40℃~+85℃(5次循环)

转换速率:≤5℃/min

保温时间:30min/阶段

绝缘电阻测试

测试电压:100V DC(额定≤50V)

测试时间:60±5s

合格标准:≥1000MΩ(陶瓷电容)

检测范围

材料类型典型应用测试重点
多层陶瓷电容器(MLCC)高频旁路电路直流偏压特性、微裂纹检测
铝电解电容器电源滤波电路ESR温升特性、恢复电压测试
金属化薄膜电容器EMI抑制自愈特性、耐脉冲电流能力
高分子固态电容器高速数字电路高频阻抗特性、寿命加速试验
云母电容器高精度振荡电路Q值测量、温度频率特性

检测方法

国际标准:

IEC 60384-1(固定电容器通用规范)

ASTM D150-11(介质损耗角测量)

JIS C5101-1(电子设备用固定电容器)

国家标准:

GB/T 2693-2017(电子设备用固定电容器)

GB/T 6346.14-2015(抑制电磁干扰电容器)

GB/T 17737.1-2018(同轴通信电缆电容器)

检测设备

LCR测试仪(Keysight E4980A)

频率范围:20Hz~2MHz

基本精度:0.05%

直流偏置:±40V

耐压测试仪(Chroma 19032)

输出电压:0~5kV AC/DC

电流分辨率:0.1μA

电弧检测:Class B标准

高低温试验箱(Espec PL-3J)

温度范围:-70℃~+180℃

变温速率:5℃/min

容积:300L

阻抗分析仪(HIOKI IM3536)

频率范围:4Hz~8MHz

测量参数:|Z|,θ,R,X,C,L,D,Q

直流偏压:±60V

X射线检测系统(Yxlon FF35 CT)

分辨率:≤1μm

电压范围:30kV~160kV

三维断层扫描功能

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与旁通电容器测试相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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