暗反应检测概述:检测项目1.暗态电子迁移率:测量范围10⁻⁵~10cm/(Vs),精度0.5%2.热分解活化能:分析温度范围25-600℃,升温速率0.1-20℃/min3.氧化诱导时间(OIT):依据ASTMD3895标准,测试压力0.1-10MPa4.表面电荷衰减率:测量时间0.1s-24h,环境湿度控制2%RH5.暗电流密度:量程1pA/cm~1mA/cm,电压偏置1000V检测范围1.半导体晶圆:包括硅(Si)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)等III-V族化合物2.光伏组件:涵盖单晶硅电池、CIGS薄膜电池
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.暗态电子迁移率:测量范围10⁻⁵~10cm/(Vs),精度0.5%
2.热分解活化能:分析温度范围25-600℃,升温速率0.1-20℃/min
3.氧化诱导时间(OIT):依据ASTMD3895标准,测试压力0.1-10MPa
4.表面电荷衰减率:测量时间0.1s-24h,环境湿度控制2%RH
5.暗电流密度:量程1pA/cm~1mA/cm,电压偏置1000V
1.半导体晶圆:包括硅(Si)、砷化镓(GaAs)、氮化镓(GaN)等III-V族化合物
2.光伏组件:涵盖单晶硅电池、CIGS薄膜电池及钙钛矿太阳能电池
3.光学涂层:AR减反射膜、ITO导电膜等纳米级功能镀层
4.生物光敏剂:叶绿素衍生物、卟啉类化合物及人工合成光催化剂
5.储能材料:锂离子电池负极材料、固态电解质界面膜(SEI)
ASTME2141-21:光电器件暗电流特性测试规程
ISO17526:2020:光学元件长期稳定性评估方法
GB/T26125-2019:电子电气产品热分解特性试验方法
IEC62805-2:2020:光伏组件暗态电性能测量标准
JISK7120:2022:塑料热稳定性测试程序
1.KeysightB1500A半导体分析仪:支持10fA~1A电流测量
2.NetzschSTA449F3同步热分析仪:TGA/DSC同步测量精度0.1μg
3.Keithley4200A-SCS参数分析系统:集成C-V和I-V特性测试模块
4.Agilent4156C精密半导体参数分析仪:分辨率达0.1fA/10μV
5.MettlerToledoTGA/DSC3+:最大升温速率150℃/min
6.GamryInterface5000P电化学工作站:阻抗谱频率范围10μHz~1MHz
7.ThermoScientificNicoletiS50FTIR:光谱分辨率0.09cm⁻
8.BrukerDimensionIcon原子力显微镜:XYZ扫描范围90μm90μm5μm
9.PerkinElmerLambda1050+紫外分光光度计:波长范围175~3300nm
10.HORIBALabRAMHREvolution拉曼光谱仪:空间分辨率<350nm
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与暗反应检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。