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耦合效率测试

  • 原创官网
  • 2025-02-22 15:20:04
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耦合效率测试概述:耦合效率测试是评估光学及电子元件能量传输性能的核心检测项目,涉及插入损耗、回波损耗、偏振特性等关键参数。本文系统阐述测试项目、材料范围、国际标准方法及高精度设备配置,适用于光纤通信器件、激光组件等精密产品的质量控制,确保测试数据符合ISO61755、ASTME2758等国际规范要求。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

光功率传输效率:波长范围400-1650nm,动态范围-70dBm至+10dBm

插入损耗测试:分辨率0.001dB,重复性±0.02dB

回波损耗分析:测量精度±0.1dB,最大测试功率20mW

偏振相关损耗(PDL):扫描速度100nm/s,不确定度<0.03dB

模式场直径匹配度:空间分辨率0.1μm,扫描范围25mm×25mm

检测范围

光纤连接器件:FC/PC、LC、MTP等多型接口跳线

光分路器:1×N平面波导型/熔融拉锥型分光器件

激光器组件:DFB/FP/VCSEL半导体激光发射模组

光波导器件:硅基光子芯片、聚合物光波导元件

光通信模块:100G/400G QSFP-DD/OSFP高速光模块

检测方法

ISO/IEC 61755-3-2:2022:采用积分球法测定多模光纤连接器耦合损耗

ASTM E2758-18:基于光时域反射仪(OTDR)的分布式耦合效率检测

TIA-455-220-A:偏振保持光纤轴对准误差补偿测试规程

IEC 61300-3-52:2014:使用可调谐激光源的波长相关损耗测量

GR-1435-CORE:高密度光纤阵列板级耦合强度验证方案

检测设备

EXFO AXS-700光开关矩阵:支持128通道自动切换,切换时间<15ms

Yokogawa AQ6370D光谱分析仪:波长精度±0.01nm,动态范围78dB

Keysight N7788B偏振分析仪:支持Stokes参数实时测量,采样率10MSa/s

Thorlabs BP209-IR2光束分析系统:M²因子测量精度±3%,适用波长900-1700nm

OZ Optics ALD-2000自动对准平台:定位精度50nm,最大负载5kg

技术优势

CNAS认可实验室(注册号详情请咨询工程师)具备ISO/IEC 17025:2017全项认证资质

建立NIST可溯源的光功率计量标准装置(校准不确定度0.8%)

配备Class 1000级超净检测环境,温控精度±0.5℃

自主研发多轴运动补偿算法,有效降低微振动引起的测量偏差

采用LabVIEW+Python双平台数据融合系统,实现测试报告自动生成

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与耦合效率测试相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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