二氧化硅热流量检测

检测项目1.导热系数测定:测量范围0.1-1.5W/(mK),精度3%2.热扩散率分析:测试温度范围25-1200℃,分辨率0.05mm/s3.比热容测试:采用DSC法测定20-800℃区间数据4.稳态热流密度:最大负荷50kW/m,重复性误差≤2%5.瞬态平面热源响应:时间分辨率0.01-100s检测范围1.高纯二氧化硅粉末(纯度≥99.99%)2.熔融石英玻璃制品(厚度0.5-50mm)3.纳米多孔二氧化硅气凝胶(孔径2-50nm)4.半导体用CVD沉积二氧化硅薄膜(厚度100nm-10μm)5.

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检测项目

1.导热系数测定:测量范围0.1-1.5W/(mK),精度3%

2.热扩散率分析:测试温度范围25-1200℃,分辨率0.05mm/s

3.比热容测试:采用DSC法测定20-800℃区间数据

4.稳态热流密度:最大负荷50kW/m,重复性误差≤2%

5.瞬态平面热源响应:时间分辨率0.01-100s

检测范围

1.高纯二氧化硅粉末(纯度≥99.99%)

2.熔融石英玻璃制品(厚度0.5-50mm)

3.纳米多孔二氧化硅气凝胶(孔径2-50nm)

4.半导体用CVD沉积二氧化硅薄膜(厚度100nm-10μm)

5.陶瓷基复合材料中的二氧化硅相(含量5-95wt%)

检测方法

ASTME1461-22:激光闪射法测定热扩散率

ISO22007-4:2017:瞬态平面热源法测量导热系数

GB/T10297-2023:非金属固体材料热线法导热测试

GB/T3651-2008:耐火材料高温导热系数试验方法

ISO8302:2021:防护热板法稳态热阻测定

检测设备

NetzschLFA467HyperFlash:激光闪射法热扩散率分析仪,温度范围-120-2800℃

TAInstrumentsDXF900:双试样保护热板装置,符合ISO8302标准

C-ThermTCiThermalConductivityAnalyzer:瞬态平面热源技术设备,测试速度<3s/次

LinseisTHB-1000:高温热线法导热仪,最高温度1250℃

HitachiHFM-100:稳态热流法测试系统,样品尺寸300300mm

MalvernPanalyticalMicroCalVP-DSC:差示扫描量热仪比热容测量模块

AnterFlashLine5000:快速激光闪射仪,支持真空/惰性气体环境测试

KyotoElectronicsQTM-500:瞬态热线法导热系数测定仪,精度3%

HolometrixTCFCM-1000:薄膜材料专用热导率测试系统

ULVAC-RIKOTC-7000H:宽温区(RT-1500℃)辐射加热式导热分析装置

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

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