聚束系统检测概述:检测项目1.束流强度:测量峰值电流(0.1-1000mA)与平均电流(0.01-100mA)的线性度偏差(≤1.5%)2.束斑均匀性:分析直径50μm-5mm范围内强度分布CV值(≤8%)3.能量分辨率:测定1-100keV能段的半高宽(FWHM≤0.5eV)4.时间稳定性:监控连续工作72小时的强度波动(RMS≤0.8%)5.真空兼容性:验证10-6-10-9Pa真空度下的放电特性检测范围1.半导体晶圆掺杂层(Si,GaAs,InP基材)2.金属薄膜镀层(Au,Al,Cu厚度50-500nm)3.医用加
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.束流强度:测量峰值电流(0.1-1000mA)与平均电流(0.01-100mA)的线性度偏差(≤1.5%)
2.束斑均匀性:分析直径50μm-5mm范围内强度分布CV值(≤8%)
3.能量分辨率:测定1-100keV能段的半高宽(FWHM≤0.5eV)
4.时间稳定性:监控连续工作72小时的强度波动(RMS≤0.8%)
5.真空兼容性:验证10-6-10-9Pa真空度下的放电特性
1.半导体晶圆掺杂层(Si,GaAs,InP基材)
2.金属薄膜镀层(Au,Al,Cu厚度50-500nm)
3.医用加速器钨靶组件(纯度≥99.95%)
4.航天级碳纤维复合材料(模量≥300GPa)
5.高能物理实验用铍窗(厚度0.1-1mm)
1.ASTMF1094-18《带电粒子束特性表征规程》
2.ISO21438-3:2011《电离辐射探测器校准规范》
3.GB/T19629-2022《电子光学系统性能测试方法》
4.ISO14606:2015《表面化学分析-溅射深度剖析》
5.GB5172-2018《粒子加速器辐射防护标准》
1.Keithley2636B源表:测量nA级微电流信号
2.Faraday杯阵列XYZ-2000:采集空间分辨束流分布
3.OmicronEA125能量分析仪:实现0.1eV级能量分辨
4.Agilent34972A数据采集系统:进行72小时连续监测
5.PfeifferHiPace80分子泵组:建立超高真空环境(≤510-7Pa)
6.BrukerDektakXT轮廓仪:测量束斑作用深度(精度2nm)
7.HamamatsuC10910D热像仪:监测靶材温升(灵敏度0.03℃)
8.KeysightN9030B频谱仪:分析10MHz-26.5GHz电磁干扰
9.OxfordInstrumentsX-Max80能谱仪:元素成分定量分析(检出限0.1at%)
10.LeicaDM2700M金相显微镜:观察500微观结构变化
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与聚束系统检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。