检测项目

1.粒度分布：D10/D50/D90值测定（激光衍射法），粒径范围0.1-100μm

2.比表面积：BET法测定（氮气吸附），测量范围0.01-2000m/g

3.化学成分：Al₂O₃纯度（≥99.6%），杂质元素（Na₂O≤0.05%、SiO₂≤0.02%）

4.晶体结构：α相含量（XRD定量分析），半峰宽≤0.15

5.形貌特征：片径厚度比（SEM观测），典型值15:1-30:1

6.热稳定性：TG-DSC分析（25-1500℃），相变温度≥1200℃

检测范围

1.陶瓷基板用高纯平板状氧化铝（纯度≥99.9%）

2.耐火材料用改性平板状氧化铝（ZrO₂复合型）

3.催化剂载体用多孔平板状氧化铝（孔径5-50nm）

4.电子封装用低介电平板状氧化铝（介电常数≤9.8）

5.复合材料增强用纳米平板状氧化铝（粒径≤500nm）

6.光学镀膜用单晶平板状氧化铝（晶面取向(001)）

检测方法

ASTMB822-20《金属粉末粒度分布的标准测试方法》

ISO9277:2010《气体吸附法测定比表面积》

GB/T6609-2022《氧化铝化学分析方法》

ISO14703:2023《陶瓷粉末扫描电镜试样制备》

GB/T3074.1-2016《高纯氧化铝相含量测定》

ASTME1131-20《热重分析标准试验方法》

检测设备

1.MalvernMastersizer3000激光粒度仪：测量范围0.01-3500μm

2.MicromeriticsASAP2460比表面分析仪：四站式全自动测试系统

3.RigakuSmartLabX射线衍射仪：9kW旋转阳极光源

4.HitachiSU5000场发射电镜：分辨率1nm@15kV

5.NetzschSTA449F3同步热分析仪：温度精度0.1℃

6.PerkinElmerOptima8300ICP-OES：检出限≤1ppm

7.AgilentCary630FTIR光谱仪：波数范围350-7800cm⁻

8.QuantachromeAutosorb-iQ-C化学吸附仪：真空度≤10⁻8mbar