剪影检测概述:检测项目1.轮廓精度:测量实际轮廓与理论模型偏差值(0.05mm)2.边缘锐度:量化边缘过渡区域梯度变化(阈值≥85%)3.透光均匀性:评估材料透射光强分布(CV值≤3%)4.几何尺寸:包括直径(Φ0.5-200mm)、角度(0.1)、曲率半径(R0.1-50mm)5.表面缺陷:检测划痕(长度≥50μm)、气泡(直径≥10μm)等异常特征检测范围1.光学薄膜:显示屏偏光片、增亮膜等超薄聚合物材料2.金属冲压件:连接器端子、微型弹簧等精密五金部件3.注塑制品:医疗器械外壳、光学透镜等复杂曲面产品4.半导体晶
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。
1.轮廓精度:测量实际轮廓与理论模型偏差值(0.05mm)
2.边缘锐度:量化边缘过渡区域梯度变化(阈值≥85%)
3.透光均匀性:评估材料透射光强分布(CV值≤3%)
4.几何尺寸:包括直径(Φ0.5-200mm)、角度(0.1)、曲率半径(R0.1-50mm)
5.表面缺陷:检测划痕(长度≥50μm)、气泡(直径≥10μm)等异常特征
1.光学薄膜:显示屏偏光片、增亮膜等超薄聚合物材料
2.金属冲压件:连接器端子、微型弹簧等精密五金部件
3.注塑制品:医疗器械外壳、光学透镜等复杂曲面产品
4.半导体晶圆:切割道宽度(≤20μm)、芯片轮廓完整性
5.印刷电路板:焊盘尺寸(公差25μm)、阻焊层开口精度
ASTME2544-11光学测量系统校准规范
ISO12233:2017光学系统分辨率测试标板法
GB/T13962-2009光学测量仪器术语及定义
ISO10110-7:2017光学元件表面缺陷评估方法
GB/T1800.2-2020产品几何技术规范(GPS)公差原则
1.MitutoyoQV-3020轮廓投影仪:配备500万像素CCD,测量精度1μm
2.KeyenceVHX-7000数字显微镜:支持20-6000倍景深合成成像
3.OlympusDSX1000工业内窥镜:具备3D曲面重构功能
4.ZeissO-INSPECT543复合式测量机:整合接触式测头与视觉系统
5.NikonNEXIVVMZ-S6520视频测量系统:双远心镜头配置
6.BrukerContourGT-X3白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm
7.HexagonOptivPerformance432影像仪:配备多段环形LED光源
8.ShimadzuAGX-V材料试验机:集成高速摄像变形追踪模块
9.ThermoScientificPhenomPharosSEM:纳米级表面形貌分析
10.OceanInsightFX2000光谱仪:380-2500nm宽波段透射率测量
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与剪影检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。