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剪影检测

  • 原创官网
  • 2025-05-16 19:16:26
  • 关键字:剪影测试机构,剪影测试标准,剪影测试仪器
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剪影检测概述:检测项目1.轮廓精度:测量实际轮廓与理论模型偏差值(0.05mm)2.边缘锐度:量化边缘过渡区域梯度变化(阈值≥85%)3.透光均匀性:评估材料透射光强分布(CV值≤3%)4.几何尺寸:包括直径(Φ0.5-200mm)、角度(0.1)、曲率半径(R0.1-50mm)5.表面缺陷:检测划痕(长度≥50μm)、气泡(直径≥10μm)等异常特征检测范围1.光学薄膜:显示屏偏光片、增亮膜等超薄聚合物材料2.金属冲压件:连接器端子、微型弹簧等精密五金部件3.注塑制品:医疗器械外壳、光学透镜等复杂曲面产品4.半导体晶


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CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

1.轮廓精度:测量实际轮廓与理论模型偏差值(0.05mm)

2.边缘锐度:量化边缘过渡区域梯度变化(阈值≥85%)

3.透光均匀性:评估材料透射光强分布(CV值≤3%)

4.几何尺寸:包括直径(Φ0.5-200mm)、角度(0.1)、曲率半径(R0.1-50mm)

5.表面缺陷:检测划痕(长度≥50μm)、气泡(直径≥10μm)等异常特征

检测范围

1.光学薄膜:显示屏偏光片、增亮膜等超薄聚合物材料

2.金属冲压件:连接器端子、微型弹簧等精密五金部件

3.注塑制品:医疗器械外壳、光学透镜等复杂曲面产品

4.半导体晶圆:切割道宽度(≤20μm)、芯片轮廓完整性

5.印刷电路板:焊盘尺寸(公差25μm)、阻焊层开口精度

检测方法

ASTME2544-11光学测量系统校准规范

ISO12233:2017光学系统分辨率测试标板法

GB/T13962-2009光学测量仪器术语及定义

ISO10110-7:2017光学元件表面缺陷评估方法

GB/T1800.2-2020产品几何技术规范(GPS)公差原则

检测设备

1.MitutoyoQV-3020轮廓投影仪:配备500万像素CCD,测量精度1μm

2.KeyenceVHX-7000数字显微镜:支持20-6000倍景深合成成像

3.OlympusDSX1000工业内窥镜:具备3D曲面重构功能

4.ZeissO-INSPECT543复合式测量机:整合接触式测头与视觉系统

5.NikonNEXIVVMZ-S6520视频测量系统:双远心镜头配置

6.BrukerContourGT-X3白光干涉仪:垂直分辨率0.1nm

7.HexagonOptivPerformance432影像仪:配备多段环形LED光源

8.ShimadzuAGX-V材料试验机:集成高速摄像变形追踪模块

9.ThermoScientificPhenomPharosSEM:纳米级表面形貌分析

10.OceanInsightFX2000光谱仪:380-2500nm宽波段透射率测量

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与剪影检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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