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扭曲向列模式测试

  • 原创官网
  • 2025-02-22 15:40:11
  • 关键字:扭曲向列模式测试测试范围,扭曲向列模式测试测试周期,扭曲向列模式测试测试机构
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扭曲向列模式测试概述:扭曲向列模式(TwistedNematicMode,TN模式)测试是液晶显示材料与光学器件性能评估的核心环节,重点关注电光响应特性、阈值电压稳定性及视角依赖性等关键参数。本文基于ASTM/ISO标准体系,系统阐述TN模式材料的检测项目、方法及设备配置,适用于工业显示屏、医疗成像设备等领域的质量控制与研发验证。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

阈值电压(Vth):测定液晶分子开始取向转变的临界电压,精度±0.05V

响应时间(τrisedecay):上升/下降时间测量范围1ms-500ms,分辨率0.1ms

对比度比(CR):亮度对比测试采用CIE 1931标准光源,动态范围103:1

预倾角偏差:通过椭偏仪测量分子预倾角,误差控制≤0.5°

电压保持率(VHR):60℃环境测试1000h后电压衰减率≤5%

检测范围

TN型液晶材料:包括烷基氰基联苯、氟代苯酯类化合物等

工业级显示屏组件:车载仪表盘、工控HMI面板

光学调制器件

医疗成像设备:内窥镜成像模组、手术导航显示屏

消费电子产品:电子书阅读器、穿戴设备柔性屏

检测方法

ASTM F2553:电光响应特性测试标准,涵盖电压-透射率曲线测量

ISO 13482:视角依赖性测试方法,规定±85°极角测量条件

IEC 62341-6-1:环境可靠性测试流程,含温度循环、湿热老化试验

JIS K7105:双折射率测量标准,采用正交偏振光干涉法

GB/T 18910.61:动态影像响应时间测试规范,含灰阶切换测试模式

检测设备

光电参数综合测试系统(TOPCON BM-7A):支持0.01cd/m²~3000cd/m²亮度测量

高速电光响应分析仪(Otsuka LE-3500):采样频率达1MHz,最小脉冲宽度10ns

精密LCR测试仪(Keysight E4980AL):测量电容精度±0.05%,频率范围20Hz-2MHz

温控偏光显微镜(Olympus BX53-P-OLS):温度控制范围-40℃~150℃,配备λ补偿器

高低温交变试验箱(Espec SH-261):温变速率15℃/min,湿度范围20%~98%RH

技术优势

CNAS认可实验室(编号详情请咨询工程师):通过ISO/IEC 17025体系认证

标准物质溯源体系:NIM标准液晶样品(GBW08321)定期校准

全参数不确定度分析:阈值电压测量扩展不确定度U=0.1V(k=2)

多物理场耦合测试能力:支持电-热-光-机械应力综合测试

军工级环境控制系统:万级洁净室,±0.1℃恒温控制

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与扭曲向列模式测试相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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