低电压正电源射极耦合逻辑检测

检测项目

1.工作电压范围：1.2V-3.3VDC输入条件下的稳定性测试
2.传输延迟时间：单级门电路≤150ps@2.5V
3.静态功耗电流：待机模式≤5μA@25℃
4.噪声容限：50mV峰峰值干扰下的误码率≤1E-6
5.输出电平稳定性：VOH≥2.8V/VOL≤0.4V@10mA负载

检测范围

1.硅基集成电路芯片（0.18μm-28nm工艺节点）
2.多层陶瓷封装电源管理模块
3.高速背板连接器（≥10Gbps传输速率）
4.医用植入式电子器件供电单元
5.车规级CAN总线驱动电路

检测方法

1.GB/T17574-2021《半导体器件集成电路第21部分：低压数字电路》
2.ASTMF1241-22《高速逻辑电路传输延迟测量规程》
3.ISO11452-4:2020《道路车辆电气抗扰度测试方法》
4.IEC62132-5:2018《集成电路电磁兼容性测量》
5.GB/T17626.6-2018《射频场感应的传导骚扰抗扰度》

检测设备

1.KeysightDSOX6054A数字存储示波器（带宽6GHz,采样率20GSa/s）
2.TektronixTLA6401逻辑分析仪（40通道/4GHz状态捕获）
3.KeysightN6705C直流电源分析仪（20V/3A四象限输出）
4.EspecSTZ-3高精度温度试验箱（-70℃~+180℃温变控制）
5.Rohde&SchwarzFSW26频谱分析仪（26.5GHz频率范围）
6.KeysightN5227A网络分析仪（10MHz-67GHzS参数测量）
7.ThermoKeyTekHBM-200静电放电测试仪（30kV脉冲生成）
8.FlukeTiX580红外热成像仪（640480分辨率/1℃精度）
9.AgilentE4980A精密LCR测试仪（20Hz-2MHz阻抗分析）

北检(北京)检测技术研究院【简称：北检院】

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

以上是与"低电压正电源射极耦合逻辑检测"相关的简单介绍，具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。