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耦合电路测试

  • 原创官网
  • 2025-02-26 17:13:05
  • 关键字:耦合电路测试测试案例,耦合电路测试测试仪器,耦合电路测试测试周期
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耦合电路测试概述:耦合电路测试是评估电路传输性能与信号完整性的关键技术,重点涵盖插入损耗、回波损耗、隔离度等核心参数。检测需依据国际标准规范操作流程,确保高频信号传输稳定性及电磁兼容性,适用于通信设备、微波元件等领域的质量控制与故障排查。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

插入损耗:频率范围1MHz-40GHz,典型值0.1dB-3dB

回波损耗:频率范围DC-50GHz,测试阈值≥15dB

隔离度:频段覆盖2.4GHz/5.8GHz,要求≥25dB

方向性:标准测试条件25℃±5℃,指标≥18dB

相位一致性:多端口相位差≤±5°(10MHz-20GHz)

检测范围

高频PCB电路板(FR4、罗杰斯4350B)

射频连接器(SMA、N型、BNC)

微波定向耦合器(3dB/6dB/10dB)

光纤耦合器件(单模/多模)

无线通信模块(蓝牙/WiFi/5G NR)

检测方法

ASTM D5569-22:高频电路插入损耗测试规程

ISO/IEC 62153-4-7:射频连接器耦合特性测量

GB/T 11313.43-2021:同轴通信电缆组件测试规范

MIL-STD-202H:电子元件环境适应性试验方法

GB 9254-2021:信息技术设备无线电骚扰限值

检测设备

矢量网络分析仪:Keysight N5224B,频率范围10MHz-43.5GHz,支持S参数全校准

频谱分析仪:Rohde & Schwarz FSW50,分辨率带宽1Hz-50MHz

高低温试验箱:ESPEC SH-261,温控范围-70℃~+180℃

相位噪声测试系统:Keysight E5500A,灵敏度-180dBc/Hz@10GHz

时域反射计:Tektronix DSA8300,采样率100GSa/s,上升时间≤17ps

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与耦合电路测试相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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