光场检测概述:检测项目1.光强空间分布:测量范围为0.1-10000W/m,分辨率≤1%FS2.波前相位精度:PV值≤λ/20(λ=632.8nm),RMS≤λ/1003.光谱透射率:覆盖200-2500nm波段,精度0.5%4.光束质量因子M:测量误差≤3%,符合ISO11146标准5.偏振态分析:消光比≥30dB,斯托克斯参数测量精度0.01检测范围1.光学玻璃基片:包括熔融石英、BK7等材质透镜/棱镜2.镀膜元件:AR/HR/MIR光学镀膜层性能验证3.光纤器件:保偏光纤、光子晶体光纤传输特性4.半导体材料:Ga
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.光强空间分布:测量范围为0.1-10000W/m,分辨率≤1%FS
2.波前相位精度:PV值≤λ/20(λ=632.8nm),RMS≤λ/100
3.光谱透射率:覆盖200-2500nm波段,精度0.5%
4.光束质量因子M:测量误差≤3%,符合ISO11146标准
5.偏振态分析:消光比≥30dB,斯托克斯参数测量精度0.01
1.光学玻璃基片:包括熔融石英、BK7等材质透镜/棱镜
2.镀膜元件:AR/HR/MIR光学镀膜层性能验证
3.光纤器件:保偏光纤、光子晶体光纤传输特性
4.半导体材料:GaN、InP等衬底的光致发光特性
5.激光系统:固体/光纤/半导体激光器输出特性
1.ASTME903-20材料光谱透射率测试方法
2.ISO13694:2018激光光束功率密度分布测量规范
3.GB/T26189-2010激光光束质量测试方法
4.ISO10110-5:2015光学元件波前畸变测试标准
5.GB/T13742-2019光学偏振态测量技术要求
1.ZYGOVerifireMST干涉仪:波长632.8nm,PV精度λ/100
2.ThorlabsBP209-IR光束分析仪:探测面阵10241280像素
3.OceanOpticsHR4000光谱仪:分辨率0.1nm@600nm
4.HamamatsuC12880微型光谱模块:波长范围340-850nm
5.KeysightN7788B偏振分析仪:支持50MHz实时采样
6.OphirSP928积分球辐射计:直径150mm0.5%精度
7.Newport2936-R功率计:量程50nW-3W0.8%
8.PrimesFocusMonitorFM:M因子测量重复性1%
9.OptoTestOPMM-W偏振维持测试系统:消光比40dB@1550nm
10.ShimadzuUV-3600iPlus分光光度计:带宽0.1-8nm可调
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与光场检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。