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旁路电容器测试

  • 原创官网
  • 2025-02-26 17:20:21
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旁路电容器测试概述:旁路电容器测试是电子元器件质量控制的重要环节,需通过电容值、等效串联电阻(ESR)、绝缘电阻、耐压性能等核心参数的精准测量,评估其在电路中的稳定性和可靠性。检测过程需严格遵循国际及国家标准,覆盖陶瓷、钽电解、铝电解等多种电容器类型,确保高频滤波、电源去耦等场景下的性能要求。


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注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).

CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

☌ 询价

检测项目

电容值测量:测试标称电容值偏差(±5%以内)

等效串联电阻(ESR):高频(100kHz-1MHz)下ESR范围(0.01Ω-10Ω)

绝缘电阻:直流电压(额定电压80%)下绝缘电阻≥100GΩ

耐压测试:施加1.5倍额定电压60秒无击穿

温度特性:-55°C至+125°C温漂范围(±15%以内)

损耗因数(DF):1kHz下DF≤0.05(陶瓷电容)或≤0.2(电解电容)

漏电流(DCL):额定电压下漏电流≤0.01CV(μA)

检测范围

多层陶瓷电容器(MLCC):用于高频旁路和滤波电路

钽电解电容器:适用于低压大容量场景(额定电压≤50V)

铝电解电容器:电源滤波及低频旁路(容量10μF-10000μF)

薄膜电容器:高精度高频电路(聚酯/聚丙烯材质)

云母电容器:高稳定性射频电路(容量1pF-10nF)

检测方法

电容值/DF测试:依据IEC 60384-1(通用)、GB/T 2693-2019(固定电容器)

ESR测试:ASTM D150-11(介电性能)、EIA-469-B(高频参数)

耐压测试:GB/T 4937-2012(半导体器件机械和气候试验方法)

温度循环测试:JEDEC JESD22-A104(-65°C至+150°C循环)

绝缘电阻测试:IEC 60674-2(塑料薄膜电容器)

检测设备

LCR测试仪(Keysight E4980A):测量电容、ESR、DF(频率1MHz以内)

耐压测试仪(Chroma 19032):支持0-5kV耐压测试,漏电流分辨率0.1μA

高低温试验箱(Espec SH-241):温控范围-70°C至+180°C

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与旁路电容器测试相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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