鳞状沉积检测概述:检测项目1.沉积层厚度测量:测量范围0.1-500μm,分辨率0.05μm(依据ASTMB748)2.元素组成分析:采用X射线荧光光谱法(XRF)测定Fe/Cr/Ni等元素含量(精度0.1wt%)3.晶体结构表征:通过X射线衍射(XRD)分析α-Fe₂O₃/γ-Al₂O₃等物相组成(角度范围10-90)4.表面形貌观测:扫描电镜(SEM)观测鳞片尺寸(0.1-50μm)及分布密度(单位面积颗粒数)5.界面附着力测试:划痕法测定临界载荷值(Lc),测试范围1-100N(符合ISO20502)检测范围1.金属
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.沉积层厚度测量:测量范围0.1-500μm,分辨率0.05μm(依据ASTMB748)
2.元素组成分析:采用X射线荧光光谱法(XRF)测定Fe/Cr/Ni等元素含量(精度0.1wt%)
3.晶体结构表征:通过X射线衍射(XRD)分析α-Fe₂O₃/γ-Al₂O₃等物相组成(角度范围10-90)
4.表面形貌观测:扫描电镜(SEM)观测鳞片尺寸(0.1-50μm)及分布密度(单位面积颗粒数)
5.界面附着力测试:划痕法测定临界载荷值(Lc),测试范围1-100N(符合ISO20502)
1.金属材料:高温合金表面氧化层、电镀锌/镍镀层
2.陶瓷涂层:热障涂层(TBCs)、物理气相沉积(PVD)硬质膜
3.高分子复合材料:防腐涂料固化层、聚合物基纳米叠层
4.电子元件:半导体晶圆钝化层、磁记录介质薄膜
5.光学镀膜:增透膜/反射膜多层结构、真空镀铝膜系
1.ASTME1078-2014表面粗糙度与形貌标准化测量规程
2.ISO1463-2021金属氧化物覆盖层厚度测定-显微镜法
3.GB/T16533-2023晶体取向电子背散射衍射(EBSD)分析方法
4.ASTMC1624-2015划痕法测定涂层附着力标准试验方法
5.GB/T17359-2023微束分析能谱法定量分析通则
1.ThermoScientificARLQUANT'XX射线荧光光谱仪(元素定量分析)
2.BrukerD8ADVANCEX射线衍射仪(物相鉴定与织构分析)
3.ZeissGeminiSEM500场发射扫描电镜(纳米级形貌观测)
4.AntonPaarRevetestRST划痕测试仪(界面结合强度测定)
5.OxfordInstrumentsSymmetryEBSD探测器(晶体取向成像)
6.KeyenceVK-X3000激光共聚焦显微镜(三维表面重构)
7.FischerscopeXDV-μX射线测厚仪(非破坏性厚度测量)
8.HysitronTIPremier纳米压痕仪(微观力学性能测试)
9.PerkinElmerSTA8000同步热分析仪(热膨胀系数测定)
10.Agilent7900ICP-MS电感耦合等离子体质谱仪(痕量元素检测)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与鳞状沉积检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。