检测项目
介电常数（εr）：测量范围2.0-8.0@1MHz-10GHz
介质损耗角正切（tanδ）：分辨率0.0001@10kHz-1GHz
极化弛豫时间：测试精度±0.5ns
击穿场强：AC 0-50kV/mm，DC 0-100kV/mm
频率特性曲线：扫频范围1kHz-40GHz，步进精度0.1Hz
检测范围
高频电路基板材料（PTFE/陶瓷填充复合材料）
高压绝缘介质（环氧树脂/硅橡胶制品）
微波吸收材料（铁氧体/碳基复合材料）
光学镀膜层（TiO2/SiO2多层膜系）
半导体封装材料（BT树脂/液晶聚合物）
检测方法
ASTM D150-18：固体电绝缘材料AC损耗特性及介电常数标准测试
ISO 6721-1:2019：塑料介电和电阻性能测定（频率1Hz-100MHz）
GB/T 1409-2006：测量电气绝缘材料在工频、音频、高频下介电性能推荐方法
IEC 60250:1969：确定电气绝缘材料在工频、音频、射频（包括米波长）下相对介电常数和介质损耗因数推荐方法
GB/T 1693-2007：硫化橡胶介电常数和介质损耗角正切值的测定方法
检测设备
Keysight E4990A阻抗分析仪：频率范围20Hz-120MHz，基本精度0.045%
Agilent 4294A精密阻抗分析仪：40Hz-110MHz，四端对测量接口
HIOKI IM3570阻抗分析仪：DC-200MHz，支持温度-40℃-150℃同步测试
Tettex 2924固体介质测试系统：AC 0-12kV，DC 0-20kV耐压测试
Anritsu MS46122B矢量网络分析仪：10MHz-40GHz，时域门控反射测量功能