相对电阻检测概述:检测项目1.材料电阻率:测量单位长度截面积的电阻值(Ωm),精度0.1%2.温度系数(TCR):测定-50℃至+200℃范围内电阻变化率(%/℃)3.接触电阻:评估端子/触点间阻抗(μΩ级),测试电流1A-100A4.表面电阻率:针对薄膜/涂层材料(10^3-10^12Ω/sq)5.体积电阻率:测量块体材料导电性(10^-6-10^16Ωcm)检测范围1.金属材料:铜合金导线、铝合金母线槽等导体材料2.半导体材料:硅晶圆、碳化硅基板等晶圆级测试3.绝缘材料:环氧树脂封装体、陶瓷基板等介质层4.复合材料:石
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人除外).
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1.材料电阻率:测量单位长度截面积的电阻值(Ωm),精度0.1%
2.温度系数(TCR):测定-50℃至+200℃范围内电阻变化率(%/℃)
3.接触电阻:评估端子/触点间阻抗(μΩ级),测试电流1A-100A
4.表面电阻率:针对薄膜/涂层材料(10^3-10^12Ω/sq)
5.体积电阻率:测量块体材料导电性(10^-6-10^16Ωcm)
1.金属材料:铜合金导线、铝合金母线槽等导体材料
2.半导体材料:硅晶圆、碳化硅基板等晶圆级测试
3.绝缘材料:环氧树脂封装体、陶瓷基板等介质层
4.复合材料:石墨烯薄膜、导电塑料等功能性材料
5.电子元件:PCB板导通阻抗、连接器接触阻抗等
ASTMB193-20:导电材料电阻率标准测试方法
ISO3915:1999:塑料导电性体积电阻率测定
GB/T3048.2-2007:电线电缆导体直流电阻试验
IEC60404-13:2018:磁性材料直流电阻测量规范
JISC2525:2015:电子器件电极接触阻抗测试规程
Keysight34461A:6位半数字万用表(DC100μΩ-100MΩ)
Keithley2450SourceMeter:四象限源表(10fA-1A/200V)
HIOKIRM3545:微电阻计(0.01μΩ分辨率)
AgilentE4980A:LCR表(20Hz-2MHz频率扫描)
Four-pointprobestation:四点探针台(10nΩm~100kΩm量程)
TASMicro-VCM:接触阻抗测试系统(500g~5kg接触压力)
ESPECPCT-320:温控试验箱(-70℃~+180℃温变测试)
FLUKE1587FC:绝缘/导通双模兆欧表(0.01MΩ-10GΩ)
Chroma11040:线材综合测试仪(接触阻抗+耐压复合测试)
HUBER+SUHNERSucoflex404:高频同轴电缆测试系统(DC-40GHz)
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与相对电阻检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。