缩微平片检测

检测项目1.分辨率测试:最小可识别线对≥120线对/mm(ISO19262)2.密度均匀性:全幅面密度偏差≤0.1(GB/T17739.3)3.缺陷分析:划痕长度<0.5mm/㎡,污点直径<50μm4.尺寸稳定性:温湿度循环后尺寸变化率≤0.05%(ASTME1036)5.影像耐久性:加速老化试验后OD值衰减≤10%(ISO18916)检测范围1.银盐型缩微平片(SilverHalideFilm)2.重氮型档案平片(DiazoArchivalFilm)3.聚酯基工程图纸平片(PolyesterTechni

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检测项目

1.分辨率测试:最小可识别线对≥120线对/mm(ISO19262)

2.密度均匀性:全幅面密度偏差≤0.1(GB/T17739.3)

3.缺陷分析:划痕长度<0.5mm/㎡,污点直径<50μm

4.尺寸稳定性:温湿度循环后尺寸变化率≤0.05%(ASTME1036)

5.影像耐久性:加速老化试验后OD值衰减≤10%(ISO18916)

检测范围

1.银盐型缩微平片(SilverHalideFilm)

2.重氮型档案平片(DiazoArchivalFilm)

3.聚酯基工程图纸平片(PolyesterTechnicalDrawingFilm)

4.醋酸纤维素文献存储平片(CelluloseAcetateDocumentFilm)

5.COM系统输出平片(ComputerOutputMicrofilm)

检测方法

1.ASTME1036-14:摄影密度测量标准方法

2.ISO6199:2005:缩微摄影技术-16mm和35mm胶片的操作规范

3.GB/T17739.3-2008:技术图样与技术文件的缩微摄影第3部分:单元质量

4.ISO18916:2007:成像材料-加工摄影材料耐存储性试验方法

5.ANSI/AIIMMS23-1998:缩微品外观缺陷评估规范

检测设备

1.X-Rite331C透射密度计:测量范围0-4.0D,精度0.02D

2.OlympusBX53工业显微镜:500倍放大带微分干涉对比功能

3.PTWMicrodensitometerMDS:符合ISO19262分辨率测试要求

4.VELABVE-3000环境试验箱:温控范围-40℃~150℃,湿度10-98%RH

5.EpsonExpression12000XL-PRO扫描仪:4800dpi光学分辨率校准系统

6.BYK-Gardnerhaze-gardi浊度仪:表面雾度测量精度0.1%

7.LabsphereUV-1000MKII加速老化箱:符合ISO4892光老化测试标准

8.MitutoyoLSM-902S激光测长仪:尺寸测量精度1μm/m

9.JenoptikProgResCT5冷CCD相机:用于微观缺陷图像分析

10.TQCSP3000膜厚仪:涂层厚度测量范围1-2000μm

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

  • 报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
  • 检测周期:7~15工作日,可加急。
  • 资质:旗下实验室拥有CMA/CNAS/ISO资质。
  • 标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
  • 非标测试:支持定制化试验方案。
  • 售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

QUALIFICATIONS

旗下实验室 · 资质荣誉

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