


概述:检测项目1.反射率测试:波长780nm处反射系数≥70%,635nm处≥65%,误差范围2%2.误码率分析:BLER(块错误率)≤220ECC前纠错阈值3.基片翘曲度:径向偏差≤0.6,轴向偏差≤0.44.信号抖动值:CD标准≤35nsRMS,DVD标准≤8%T5.透光均匀性:基片透射率波动≤1.5%@650nm波长检测范围1.CD-DA(数字音频光盘):符合红皮书标准16bit/44.1kHz格式2.SACD(超级音频CD):DSD2.8MHz采样载体层检测3.DVD-Audio:MLP编码24bit/
注意:因业务调整,暂不接受个人委托测试,望谅解(高校、研究所等性质的个人委托除外)。
因篇幅原因,CMA/CNAS/ISO证书以及未列出的项目/样品,请咨询在线工程师。
1.反射率测试:波长780nm处反射系数≥70%,635nm处≥65%,误差范围2%
2.误码率分析:BLER(块错误率)≤220ECC前纠错阈值
3.基片翘曲度:径向偏差≤0.6,轴向偏差≤0.4
4.信号抖动值:CD标准≤35nsRMS,DVD标准≤8%T
5.透光均匀性:基片透射率波动≤1.5%@650nm波长
1.CD-DA(数字音频光盘):符合红皮书标准16bit/44.1kHz格式
2.SACD(超级音频CD):DSD2.8MHz采样载体层检测
3.DVD-Audio:MLP编码24bit/192kHz多层结构验证
4.Blu-rayAudio:BD-ROMTL51/TL75型高密度记录介质
5.DAD(数字音频碟片):符合IEC60908标准的铝反射层制品
1.ISO/IEC90803:2021《光学存储介质信号特性测量方法》
2.ASTME2864-18《光盘基板光学均匀性测试规程》
3.GB/T16971-1997《只读光盘信号质量测量技术规范》
4.JISX6243:2019《可记录光盘机械特性试验方法》
5.ECMA-130《120mmCD可录媒体测试规范》第6章物理参数测量
1.Agilent81636B光功率计:波长范围600-1650nm,精度0.02dB
2.SonyCD-5000AD光盘分析仪:支持CD/DAAD格式BLER/Jitter测量
3.PanasonicMN6770AS信号解码器:24bit/192kHz数字信号重建分析
4.KeyenceVHX-7000数字显微镜:5000倍放大表面缺陷观测系统
5.ShimadzuAGS-X万能材料试验机:加载精度0.1N的机械强度测试
6.BrukerContourGT-K光学轮廓仪:0.1nm级表面粗糙度测量
7.ThermoScientificNicoletiS50FTIR:4000-400cm⁻基片材料分析
8.EspecPL-3KPH环境试验箱:温度循环(-40℃~85℃)可靠性验证
9.Rohde&SchwarzUPV音频分析仪:THD+N≤-120dB信号保真度测试
10.HitachiAFM5100N原子力显微镜:纳米级沟槽形貌三维重构
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与"高品位音频光盘检测"相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检检测技术研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。
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