锥形折射检测概述:检测项目1.折射率梯度分布:测量轴向/径向折射率变化率(Δn=0.001-0.05)2.锥角精度:角度公差0.05,采用激光干涉法验证3.轴向色散特性:波长范围400-1600nm的群延迟波动值≤1ps/nmkm4.表面粗糙度:Ra≤5nm(接触区),Rz≤30nm(非接触区)5.热稳定性:-40℃至150℃环境下折射率变化Δn≤110⁻⁴/℃检测范围1.梯度折射率光学玻璃:用于内窥镜成像系统和激光聚焦器件2.光纤预制棒锥形过渡区:保障光纤熔接损耗≤0.1dB3.聚合物光波导元件:适用于集成光路芯片的模场
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1.折射率梯度分布:测量轴向/径向折射率变化率(Δn=0.001-0.05)
2.锥角精度:角度公差0.05,采用激光干涉法验证
3.轴向色散特性:波长范围400-1600nm的群延迟波动值≤1ps/nmkm
4.表面粗糙度:Ra≤5nm(接触区),Rz≤30nm(非接触区)
5.热稳定性:-40℃至150℃环境下折射率变化Δn≤110⁻⁴/℃
1.梯度折射率光学玻璃:用于内窥镜成像系统和激光聚焦器件
2.光纤预制棒锥形过渡区:保障光纤熔接损耗≤0.1dB
3.聚合物光波导元件:适用于集成光路芯片的模场适配器
4.红外晶体锥形耦合端面:用于中远红外激光传输系统
5.微结构光子晶体光纤:控制非线性效应和色散特性
ASTME1967-19:采用棱镜耦合法测定梯度折射率分布
ISO10110-5:2015:光学元件表面缺陷与锥角公差评定规范
GB/T13743-2020:激光束分析法测量轴向色散特性
ISO14999-4:2015:光学相移干涉仪表面形貌测试方法
GB/T26183-2010:显微红外光谱法分析材料组分均匀性
1.Metricon2010/M棱镜耦合仪:测量折射率梯度(精度0.0002)
2.ZygoVerifireMST激光干涉仪:锥面轮廓测量(分辨率0.1nm)
3.Agilent8164B可调谐激光源:波长扫描范围1260-1640nm
4.OlympusLEXTOLS5000激光共聚焦显微镜:三维表面粗糙度分析
5.MalvernPanalyticalEmpyreanX射线衍射仪:晶体结构完整性验证
6.ThorlabsPM320E光功率计:动态范围-70dBm至+20dBm
7.KeysightN5227A网络分析仪:高频介电特性测试(至67GHz)
8.BrukerVertex80v傅里叶红外光谱仪:波数范围30-15000cm⁻
报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。
检测周期:7~15工作日,可加急。
资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。
标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。
非标测试:支持定制化试验方案。
售后:报告终身可查,工程师1v1服务。
以上是与锥形折射检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。