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发射谱检测

  • 原创官网
  • 2025-05-21 15:27:15
  • 关键字:发射谱测试仪器,发射谱测试标准,发射谱测试案例
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发射谱检测概述:检测项目1.元素定量分析:检出限≤0.1ppm,动态范围10^62.特征波长校准:波长精度0.02nm(200-800nm)3.谱线强度线性度:R≥0.9995(浓度梯度测试)4.信噪比测试:≥100:1(1s积分时间)5.等离子体温度测量:误差≤5%(玻尔兹曼图法)检测范围1.金属合金材料:铝合金/钛合金/高温合金成分分析2.半导体材料:GaAs/SiC/GaN外延层掺杂浓度测定3.环境样品:土壤/水体中重金属元素(Pb/Cd/As)检测4.地质标本:稀土元素(La/Ce/Nd)定量分析5.生物医学样本


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CMA/CNAS等证书详情,因时间等不可抗拒因素会发生变更,请咨询在线工程师。

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检测项目

1.元素定量分析:检出限≤0.1ppm,动态范围10^6

2.特征波长校准:波长精度0.02nm(200-800nm)

3.谱线强度线性度:R≥0.9995(浓度梯度测试)

4.信噪比测试:≥100:1(1s积分时间)

5.等离子体温度测量:误差≤5%(玻尔兹曼图法)

检测范围

1.金属合金材料:铝合金/钛合金/高温合金成分分析

2.半导体材料:GaAs/SiC/GaN外延层掺杂浓度测定

3.环境样品:土壤/水体中重金属元素(Pb/Cd/As)检测

4.地质标本:稀土元素(La/Ce/Nd)定量分析

5.生物医学样本:血液/组织中微量元素(Fe/Zn/Cu)测定

检测方法

ASTME1257-16电感耦合等离子体原子发射光谱法通则

ISO14707:2015辉光放电发射光谱表面分析规范

GB/T20975.25-2020铝及铝合金化学分析方法-发射光谱法

GB/T13747.22-2019锆及锆合金化学分析-电感耦合等离子体发射光谱法

ASTMD1976-19水中金属元素ICP-OES测定标准方法

检测设备

ThermoScientificiCAP7400:全谱直读ICP-OES,轴向观测系统

Agilent4100MP-AES:微波等离子体原子发射光谱仪

HoribaJobinYvonUltimaExpert:高分辨率CCD光谱仪(2400gr/mm光栅)

BrukerGDS850A:辉光放电发射光谱仪(深度分辨率10nm)

PerkinElmerOptima8300:双向观测ICP-OES(紫外区量子效率>45%)

ShimadzuICPE-9820:三维全息光栅(3600条/mm),焦距1m

GBCOptimass9500:飞行时间质谱联用系统(质量分辨率>6000)

RigakuOE750:真空紫外光谱仪(120-190nm波段检测)

北检(北京)检测技术研究院【简称:北检院】

报告:可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期:7~15工作日,可加急。

资质:旗下实验室可出具CMA/CNAS资质报告。

标准测试:严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试:支持定制化试验方案。

售后:报告终身可查,工程师1v1服务。

  以上是与发射谱检测相关的简单介绍,具体试验/检测周期、检测方法和仪器选择会根据具体的检测要求和标准而有所不同。北检研究院将根据客户需求合理的制定试验方案。

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